射线检测技术8-1射线CR技术.ppt

CR检测工艺卡 8.1.6 CR图像处理规则 合格的CR图像质量要求： 图像灰度检查 像质计灵敏度检查 虚假影像检查 标记是否完整 图像灰度检查 曝光过渡 检查图像目标区域的灰度是否位于[20000,60000]之内。 像质计灵敏度检查 必须有像质计影像，否则图像无效。 观察像质计可识别的丝号是否达到要求。 放大倍数要适当 虚假影像检查 虚假影像更多的是由IP板本身引起的，如划伤、裁减不当、曝光前的受力摩擦、擦除不干净等。 标记是否完整 标记包括检测时间、工件号、铅字标记等，若标记摆放完整正确，则图像有效。 8.1 射线CR技术 8.2 工业CT技术 8.1 射线CR技术 CR技术是近年正在迅速发展的数字射线照相技术中一种新的非胶片射线照相技术，用储存荧光成像板代替胶片完成射线照相检测。 与其它数字射线照相技术相比，CR技术是最有希望的胶片替代技术。 8.1.1 CR的概念 CR：Computed radiology(ASTM标准) Computed radiography(EN标准) 计算机射线照相技术 8.1.2 CR的发展历程 CR技术方法最早由Kodak(Luckey，1975)提出。 1980年日本富士公司注册了影像板技术专利。 1981年，CR概念首次在RSNA(北美放射学年会)上亮相，富士公司向业界宣告：CR技术对曝光条件要求宽松，不用担心曝光剂量不足或者过度曝光，它的应用将大大提高图像质量，减少因曝光剂量不当导致的重复拍片。 1983年，富士公司向美国市场推出了CR及配套的激光成像仪，成为世界上第一个实现CR技术商品化的公司。 1989年开始，富士胶片将FCR技术应用于工业探伤领域，开发出IP成像板用于取代X射线胶片。 美国1992年接受富士FCR-7000型和AC-1型CR系统。 柯达公司的第一个CR系统也于1992年安装 爱克发公司1994年推出ADC70型CR系统。 CR设备的研制典型代表有日本富士胶片、爱克发、美国柯达、美国GE、德国德尔公司等。 8.1.3 射线CR检测原理-IP板 磷光物质层是成像板的主要部分，含有钡氟卤化物和铕触媒剂。铕原子吸收射线被电离释放具有一定能量的电子，电子在磷光晶体结构附近移动，直到被以氟离子组成的感光中心捕获。被捕获的电子数量正比于吸收的射线剂量，形成半稳定状态的潜影。 CR扫描仪 IP板被红色激光激发时，被捕获的电子返回原始状态，以蓝色光形式释放能量。 射线CR检测原理 射线束经过工件衰减后，以不同的强度照射在IP板上，IP板中荧光物质内部晶体的电子被激励并被俘获到一个较高能带(半稳态或更高能量的状态)，形成潜在影像(光激发荧光中心) 将IP板置入CR扫描仪内用激光束对IP板进行扫描，在激光激发下(激光能量释放被俘获的电子)，光激发射荧光中心的电子将返回它们的初始能级，并以发射可见光的形式输出不同的能量。 可见光打到CR扫描仪内部抛物面反射镜或反射层上，发生全反射，被反射的可见光最终打到光电倍增管上被接收，同时转换为数字信号，送入计算机进行处理，得到数字化射线照相灰度图像。 曝光过程-步骤1 曝光形成潜影。透照方式与常规照相相同。射线照射到IP板，与IP板上的荧光物质相互作用击出荧光物质原子的轨道电子，使原子产生电子跃迁而处于激发态。 步骤2 扫描。将IP板装入专用扫描器，用激光扫描被射线照射过的荧光物质，处于激发态的电子获得激光能量后发生跃迁，产生蓝色光辐射。 旋转反光镜 光电倍增器 光电接收器 He-Ne 激光器 IP板 步骤3 成像。蓝色光辐射被光电接收器捕获转换为数字信号，通过电脑合成图像。 射线CR核心技术 核心： IP板+CR扫描仪 射线照射发出荧光，发光原理复杂 8.1.4 射线CR系统 便携式扫描仪 IP板 射线CR系统由射线机、IP板、CR扫描仪、计算机和相关处理软件组成。 射线CR系统 刚性暗盒 柔性暗袋 操作过程 CR系统分类 按照CR系统的主要性能，即信噪比SNR和基本空间分辨率SRb，可将CR系统分类。 CR系统的分类 EN 14784-1：2005 ASTM E2446-05 最低信噪比值 SNR IP1/Y IP2/Y IP3/Y IP4/Y IP5/Y IP6/Y IP-特级/Y IP-Ⅰ/Y IP-Ⅱ/Y IP-Ⅲ/Y 130 117 78 65 52 43 IP板类型的表示方式是：IPX／Y。其中，X为类别代号：Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、…（或1、2、3、…）；Y为系统最大的基本空间分辨率，以微米（μm）为单位表示。例如，IPⅡ／100，表示的是：为Ⅱ类系统，系统最低的规格化信噪比不小于52，系统最大的基本空间分辨力为100μm。 射线CR系统核心指标 激光焦点尺寸12.5μm 丝型