电荷放大器工作原理.docxVIP

　在 测 试 系 统中，测试产品在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力即 为可靠性。测试系统的每一部分都会不同程度的影响整个系统的可靠性，由于部分的失效 引起的系统失效的概率也就不同。 　　随着存储测试技术的发展，存储测试系统逐渐模块化、标准化和系列化。如果将一些 功能模块制成 ASIC，就会满足动态测试对测试装置的要求，并使存储测试系统可靠性得 到极大地提高。图 1 为使用专用集成电路设计的存储测试系统。电荷放大器是测试系统中 的一个串联环节，因此它的失效直接影响整个系统的失效。 电荷放大器的原理 　　图 2 为电荷放大器原理图。 　　压电晶体受到压力作用产生电荷 Q；Ca 是 传 感 器级间电容，Qa 是此时充到 Ca 中的电荷；Cc 是传感器传输电缆的电容，Qc 是此时充到 Cc 中的电荷，Gc 是输入 电缆漏电导；Ci 是电荷放大器的输入电容，Qi 是此时充到 Ci 中的电荷，Gi 是放大器的 输入电导；Ud 是此时在运算放大器反相输入端上产生的差动电压；Cf 是电荷放大器的反 馈电容，作用到 Cf 两端的电压是 Ud 和输出电压 U0 的差值，Qf 是此时充入 Cf 的电荷， Gf 是放大器的反馈电导；运算放大器的开环系数为 A，由于电压是反向输入，所以： 　　U0=-A×Ud 　　因此作用在 Cf 两端的电压为： 　　根 　　根据传感器的电荷灵敏度、量程和反馈的电容计算出输出的最大电压。 　　Ucf=Ud-（-A×Ud）=Ud×（1+A） 　　假设反馈电阻 Rf 的阻值为无限大： 　　Q=Qa+Qc+Qi+Qf=Ud×（Ca+Cc+Ci+（1+A）Cf） 　　所以 　　在精度的范围内可以忽略部分数量级小的部分，可以认为：