GB/T 25185-2010表面化学分析　X射线光电子能谱　荷电控制和荷电校正方法的报告.pdf

ICS71.040.40 G04 中华人 民共和 国国家标准 / — / : GBT25185 2010ISO193182004 表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告 国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页 — — Surfacechemicalanalsis X-ra hotoelectronsectrosco y yp p py Reortin ofmethodsusedforcharecontrolandcharecorrection p g g g ( : , ) ISO193182004IDT 2010-09-26发布 2011-08-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 / — / : GBT25185 2010ISO193182004 前 言 本标准按照 / — 给出的规则起草。 GBT1.1 2009 本标准等同采用 : 《表面化学分析 射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法 ISO193182004 X 的报告》。 国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页 Ⅰ / — / : GBT25185 2010ISO193182004 引 言 ( ) 。 , X射线光电子能谱 XPS广泛用于材料表面的表征 从测得的光电子谱中 得到样品表面各元素 , ( )。 内能级的结合能 对照元素结合能表鉴别样品中的不同元素 除氢和氦以外 通常可从内能级结