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§3. 4 非本征半导体的统计
在主要由杂质决定载流子浓度的非本征半导体中,
电子的统计分布问题比本征半导体中的复杂。
不过解决问题的方法是类似的:仍可根据电中性
条件确定费米能级EF作为温度的函数,然后求出电
子和空穴的浓度。
§3. 4. 1 杂质能级的占有几率
分布函数 f D 1 (3-1)
E −E
F
kT
1+e
适用于相互独立的状态:当有一个电子占据某一状
态后,不影响其它状态的存在。能带中的电子状态
属于这种情形。但杂质上的电子状态并非如此。
杂质能级与能带中的能级是有区别的, 在能带中的能
级可以容纳自旋方向相反的两个电子, 而杂质能级不
允许同时被自旋方向相反的两个电子所占据。
杂质能级只能是如下两种情况的一种:
(1)被一个有任一自旋方向的电子所占据;
(2)不接受电子。
所以不能用(3-1)式来表示电子占据杂质能级的概率。
可以证明,f D可表示为
1
f D E −E
1 D F
1+ e kT
g D
空穴占据受主能级的几率f A 是 :
1
f A (E ) E −E
1 F A
1+ e kT
g A
式中gD 为施主的基态简并度,gA 为受主的基态简并
度, 通常称为简并因子.对Ge、Si、GaAs等材料,
gD=2, gA=4.
3. 4. 2 单一杂质能级情形
为确定起见,以施主杂质为例进行讨论。设单一的施
主能级位于禁带上半部。
由于施主杂质能向导带提供一定数量的电子,导带中
的电子数总是大于价带中的空穴数。
在此情形下电中性条件应改为
n=p+N D −nD (3-4-7)
式中ND为施主杂质浓度,nD为施主杂质上的电子浓度。
(N −n )给出施主杂质向导带提供的电子数,我们可
D D
以根据上式来确定EF ,并进而得到载流子浓度。
下面我们按不同电离程度分成几种情况进行讨论。
弱电离情形
指大部分杂质没有电离的情况,即有N −n N 。
D D D
这相应于低温情形。
在施主能级基本被电子占据的情形下,费米能级
必定在施主能级ED 之上。
对于这种情况空穴浓度必定远低于电子浓度,
因而
n=p+N D −nD (3-4-7)
中的p 可以略去。电中性条件变为
n=ND −nD (3-4-8)
n f N
D D D
N
N D −nD (1−f
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