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* 1.空间电荷区中没有载流子。 2.空间电荷区中内电场阻碍P中的空穴.N区 中的电子(都是多子)向对方运动(扩散运动)。 3.P 区中的电子和 N区中的空穴(都是少),数量有限,因此由它们形成的电流很小。 注意: .......... * 由内建电场正产生的电位差称为内建电位差(Built in Voltage),用VB表示 VT = KT/Q称为热电压 (Thermal Voltage),单位为伏。 室温即T=300K时 VT=26mV 锗的VB 为0.2—0.3V,硅的VB为0.5—0.7V。温度升高时,由于ni增大的影响比VT大,因而VB将相应减小。通常温度每升高1℃,VB约减小2.5mV。 二、内建电位差: .......... * 三、阻挡层的宽度 如果结的截面积为S,则阻挡层在P区一边的负电荷量为 N区一边的正电荷量为 并且它们的绝对值相等 X p V VB xp xn N 挡板层的任意一侧的宽度与该侧的参杂浓度成反比 .......... * 1.2.2 PN结的伏安特性 PN 结加上正向电压、正向偏置的意思都是: P 区加正、N 区加负电压。 PN 结加上反向电压、反向偏置的意思都是: P区加负、N 区加正电压。 .......... * - - - - + + + + R E 一、PN 结正向偏置 内电场 外电场 变薄 P N + _ 内电场被削弱,多子的扩散加强能够形成较大的扩散电流。 .......... * 二、PN 结反向偏置 - - - - + + + + 内电场 外电场 变厚 N P + _ 内电场被被加强,多子的扩散受抑制。少子漂移加强,但少子数量有限,只能形成较小的反向电流。 R E .......... * 三、PN 结伏安特性 iD(mA) V(v) T1 T2T1 T2 温度每升高1度,反相饱和电流增加1倍 .......... * 四、PN 结的击穿 雪崩击穿: 随着反向电压的增大,阻挡层内部的电场增强,阻挡层中载流子的漂移速度相应加快,致使动能加大。当反向电压增大到一定数值时,载流子获得的动能足以把束缚在共价键中的价电子碰撞出来,产生自由电子—空穴对。新产生的载流子在强电场作用下,再去碰撞其它中性原子,又产生新的自由电子-空穴对。如此连锁反应使得阻挡层中载流子的数量急剧增多,因而流过PN结的反向电流也就急剧增大。因增长速度极快,象雪崩一样,所以将这种碰撞电离称为雪崩击穿(Avalanche Multiplieation ) .......... * 四、PN 结的击穿 齐纳击穿 当PN结两边的掺杂浓度很高时,阻挡层将变得很薄。在这种阻挡层内,载流子与中性原子相碰撞的机会极小,因而不容易发生碰撞电离。但是,在这种阻挡层内,加上不大的反向电压,就能建立很强的电场(例如加上1V反向电压时,阻挡层内的场强可达2.5X105V/cm),足以把阻挡层内中性原子的价电子直接从共价键中拉出来,产生自由电子-空穴对,这个过程称为场致激发。场致激发能够产生大量的载流子,使PN结的反向电流剧增,呈现反向击穿现象。这种击穿称为齐纳击穿(Zener Break down) 一般而言,击穿电压在6V以下的属于齐纳击穿,6V以上的主要是雪崩击穿 .......... * 击穿电压的温度特性 当温度升高时,晶格的热振动加剧,致使载流子运动的平均自由路程缩短。因此,在与原子碰撞前由外加电场获得的能量减小,发生碰撞而电离的可能性也就减小。在这种情况下,必须加大反向电压,才能发生雪崩击穿。因此,雪崩击穿电压随温度升高而增大,具有正的温度系数。 当温度升高时,由于束缚在共价键中的价电子所具有的能量状态增高。因此,在电场作用下,价电子比较容易挣脱共价键的束缚,产生自由电子-空穴对,形成场致激发。可见,齐纳击穿电压随温度升高而降低,具有负的温度系数 .......... * 1.2.4、PN结的电容特性 一、势垒电容 PN结的阻挡层类似于平板电容器,它在交界面两侧贮存着数值相等;极性相反的离子电荷,其值随外加电压而变化 Q V 0 V cT 0 .......... * 二、扩散电容 当外加电压变化时,除改变阻挡层内贮存的电荷量外,还同时改变阻挡层外中性区(P区和N区)内贮存的非平衡载流子。例如,外加正向电压增大ΔV时,注人到中性区的非平衡少子浓度相应增大,浓度分布曲线上移,如图所示: P N -xP xn 少子浓度 X 为了维持电中性,中性区内的非平衡多子浓度也相应地增加相

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