材料分析 题库 含答案.pptx

学 海 无 涯 材料分析试题库 选择题： 一、 1. M 层电子回迁到K 层后，多余的能量放出的特征X 射线称（ B ） A. Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα 。 当X 射线发生装置是 Cu 靶，滤波片应选（ C ） A． Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。 当电子把所有能量都转换为X 射线时，该 X 射线波长称（ A ） A. 短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征 X 射线 4.当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后，L 层电子回迁K 层，多余能量将另一个 L 层 电子打出核外，这整个过程将产生（ D ） A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C） 二、 1.最常用的 X 射线衍射方法是（ B ）。 A. 劳厄法；B. 粉末法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。 2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D ） A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、 A 和 B 3.晶体属于立方晶系，一晶面截 x 轴于 a/2、y 轴于 b/3、z 轴于 c/4，则该晶面的指标为 （ B） A、(364) B、(234) C、(213) D、(468) 4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B ） A、相互平行 B、相互垂直 C、成一定角度范围 D、无必然联系 5.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（ C ）。 A. 垂直； B. 平行； C. 不一定。 在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（ B ）。 A. 6； B. 4； C. 2 D. 1； 。 用来进行晶体结构分析的 X 射线学分支是（ B ） A.X 射线透射学；B.X 射线衍射学；C.X 射线光谱学；D.其它 三、 1、对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（ A ） A、不存在系统消光 B、h+k 为奇数 C、h+k+l 为奇数 D、h、k、l 为异性数 2、立方晶系{100}晶面的多重性因子为（ D ） A、2 B、3 C、4 D、6 3、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（ A ） A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响 4、洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（ B ） A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响 5、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（ C ） A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒???目对衍射强度的影响 C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响 6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ） A、112 B、113 C、101 D、111 ;学 海 无 涯 7、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ） A、200 B、220 C、112 D、111 8、热振动对x-ray 衍射的影响中不正确的是（E ） A、温度升高引起晶胞膨胀 B、使衍射线强度减小 C、产生热漫散射 D、改变布拉 格角 E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小 9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（ C ） A、结构因子 B、角因子 C、多重性因子 D、吸收因子 四、 1、衍射仪的测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成 30 度角时，计数管与入射线成多 少度角?（B） A. 30 度； B. 60 度； C. 90 度。 2、不利于提高德拜相机的分辨率的是（ D ）。 A. 采用大的相机半径； B. 采用X 射线较长的波长； C. 选用大的衍射角；D.选用 面间距较大的衍射面。 3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ C ） A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、以上均可 4、样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（ B ） A、1﹕1 B、2﹕1 C、1﹕2 D、没有确定比例 5、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（ C ） A、相机半径越大，分辨率越高 B、θ角越大，分辨率越高 C、X 射线波长越小，分辨率越高 D、晶面间距越大，分辨率越低 6、粉末照相法所用的试样形状为（ C ） A、块状 B、分散 C、圆柱形 D、任意形状 7、低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为（ A ） A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、任意安装都可 8、以气体电离为基础制造的计数器是（ D） A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、A 和B 9、利用 X 射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且