实验一基本门电路的逻辑功能测试.docx

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实验一基本门电路的逻辑功能测试实验目的测试与门或门非门与非门或非门与异或门的逻辑功能了解测试的方法与测试的原理实验原理实验中用到的基本门电路的符号图与门图菲门实验原理实验中用到的基本门电路的符号图与门图菲门一在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能三实验设备与器件数字逻辑电路用显示可用发光二极管相应系列系列或系列芯片若干四实验内容测试门电路的逻辑功能测试测试的逻辑功能测试的逻辑功能测试的逻辑功能测试的逻辑功能只接一个的话就是非门与门或门非门两个都弄

实验一基本门电路的逻辑功能测试 、实验目的 1、 测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能. 2、 了解测试的方法与测试的原理。 、实验原理实验中用到的基本门电路的符号图1与门图:3菲门A — 、实验原理 实验中用到的基本门电路的符号 图1与门 图:3菲门 A — B 一 在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,然后使用逻辑电平显示单元 显示其逻辑功能。 三、实验设备与器件 1、 数字逻辑电路用 PRoTEUS 2、 显示可用发光二极管。 3、 相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。 四、实验内容 测试TTL门电路的逻辑功能: a) 测试 a)

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