{品质管理SPC统计}SPC讲义ppt61页.docx

统计过程控制 S P C 1 课程序言 2 什么叫统计过程控制？ 一、控制：与控制有关的要素： 1、（控制）结果应找到：（合适的范围） 2、付出的代价：即（经济）成本 3、达成的要求：（减少）风险 4、内涵的证明:(展现)控制的能力 二、过程：找范围，找过程的范围，是一种将输入转化成输出的活动。 1、过程的要素：输入、输出、活动 2、过程的类别：服务过程、制造过程等； 三、统计：过程控制的方法。 3 怎样去找过程控制的范围？ 一、过程关注的是什么：绩效，即结果和效率；怎么来实现这个过程，即过程的参数是什么？ 二、确定过程的特性，是定量的或是定性的。定量特性采用SPC，定性的采用顾客认可的；破坏性的特性如钢板的强度采用实验设计，如DOE的分析方法。 三、按重要程度分关键特性、重要特性及一般特性；按状态分：产品特性——本公司最终产品所具有的特性；过程特性 ——产品在加工过程中所显现的特性，随着加工过程而消失。 关键特性的界定：A、顾客指定；B、国家法律行业规定；C、公司自行确定；D、任何一个产品应有关键特性，运用二八 原则，抓住关键的少数。 4 总结：统计过程控制，就是通过收集、计算、分析和改进数据 的手段，从而了解制造过程其最佳范围（低成本、低风险），并确定其控制范围的异常和正常规律，达成一种事先预测并 实施改进措施的方法。 SPC：就是找范围，找制造过程的某一范围，通过范围的找到，然后确定它的一种规律性，达到预先的预测。 SPC：事实胜于雄辩，改进再提高，用数据说话。 5 课程內容 SPC的起源和发展 SPC的目的 基本的统计概念波动（变差） 普通原因/特殊原因 控制图的原理说明正态分布说明 α,β风险说明 控制图的设计原理 控制图的种类及选择 计量型控制图 X-R,X-S,X~-R,X-Rm控 制图 Ca,Cp,Cpk,Ppk,Cmk 指数说明 计数型控制图 P, np, c, u控制图 什么是6?？ 6 一、SPC的起源和发展 1、控制图的起源 控制图是1924年由美国品管大师W.A. Shewhart（休哈特）博士发明。因其用法简简单且效果显著，人人能用，到处可用，遂成为实施品质管制不可缺少的主要工具，当时称为(Statistical Quality Control)统计过程控制。 7 一、SPC的起源和发展 2、控制图的发展 1924年发明W.A. Shewhart 1924年发明 1931发表1931年Shewhart发 1931发表 Manufacture Product”(加工产品的质量控制） 8 控制图在英国及日本的历史 英国在1932年，邀请.A. Shewhart博士到伦敦，主讲统计品质管制，而提高了英国人将统计方法应用到工业方面之气氛。 就控制图在工厂中实施来说，英国比美国为早。 日本在1950年由W.E. Deming（戴明）博士引到日本。 同年日本规格协会成立了品质管制委员会，制定了相应的JIS标准。 9 3、SPCSQC PROCESS测量 PROCESS 原料 结果 10 二、SPC的目的 预防或是容忍 ？ 人 机 法 环 测量 好 PROCESS测量 PROCESS 原料 结果 不好 不要等产品做出来后再去看它好不好而 是在制造的時候就要把它制造好 11 三、基本的统计概念 统计：它是数学的一个分支。为了了解被检查总体的某些隐含的特性，运用合理的抽样方法从被调查总体中取得适当的样本，通过研究样本来发现总体的特性。 举例：国家人口统计 总结：统计是以偏概全，以点代面。统计通过样本来推断总体，看重的是整体的形象，而不是个体，它是分析和解决问题的一种方法。 统计技术：是指有目的地收集、整理和分析数据的过程所采用的方法，可以在使用较少的数据的情况下帮助我们对变差进行测量、描述、分析、解释和建模，这样可以有助于解决甚至是预防这些变差可能会带来的问题。 12 三、基本的统计概念 计量型 数据的种类 计数型 波动（变差）——波动的概念、原理及波动的种类 普通原因/异常原因 基础的统计量——总体N、样本n、平均值X、中位数X~ 、极差R、标准偏差 σ （看一组数据的离散程度）。 13 (一)、基本统计量说明 1、平均值 X 设X1，X2，…….Xn是一个大小为n的样本，则X=（X1+X2+……+Xn)/n 2、中位数X~ ~将数据按数值大小顺序排列后，位于中间位置的数，称为中位数。 ~ 如：5，9，10，4，7， X=7； 如：5，9，10，4，7，8 ~ X=（7+8）/2=7.5 14 3、极差R 样本数据中的最大值Xmax与最小值 Xmin的差值。R= Xmax- Xmin 4、标准偏差s 、 σ （1）总体标准偏差s （2）样本的标准偏差