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热量表技术培训 兰吉尔技术优势 + 流量传感器技术优势 + 积分仪技术优势 安装无需直管段 —— Helical path Qp 紊流状态 Qi 层流状态 安装无需直管段 —— Helical path 防结垢设计 —— 内壁螺纹 DuraSurface 无论采用何种设计，何种材质制造的产品，其出厂精度完全取决于校准方 法和校准过程。 在内壁光滑的流量计校准时，通过壁面反射的超声波信号与通过反射片反 射的超声波信号将叠加在一起，形成一组 “ 综合 ” 的超声波信号。 在热表运行过程中，壁面沉积了水垢后，经壁面反射的超声波信号将受到 严重影响，而这一组 “ 综合 ” 的超声波信号的波形、强度等传播特性将受到 影响，从而流量计的计量精度也将受到影响。 防结垢设计 —— 内壁螺纹 DuraSurface 通过流量计结构设计，剔除壁面反射信号 ? 内壁螺纹 : 螺纹深度大于正常系统中每年水垢沉积厚度的 10 倍 ? 校准时避免使用壁面反射信号 可靠性与耐久性 —— 全金属流量传感器 超声波换能器 : - 130 ° C 下持续运行 - 耐磨损 - 对于压力瞬变不敏感 - 耐久性 整体由铝青铜合金冲压 无可脱落部件 阻尼材料 压电晶体 底部厚度 700μ m 竞争对手仅 50μ m 数据掉电保护 —— EEPROM RAM —— 随机存取存储器 ? 存取速度快 ? 掉电后数据消失 EEPROM —— 电可擦可编程只读存储器 ? 掉电后数据长期保存 ? 使用寿命取决于存取次数 热表运行过程中，测量和计算的数据均存储与 RAM 中。通过 LCD 、光电口 和 M-Bus 等通讯方式读取的，也都是 RAM 中存储的数据。 热表每小时将测量和计算的数据向 EEPROM 中写入一次，作为备份这些数 据被保存在 EEPROM 中，直到下一次写入时将原有数据覆盖。每小时读取 一次的情况下， EEPROM 的设计使用寿命为 20 年。 兰吉尔热表存储于 EEPROM 中的数据有： 累积量：累计热量、累积流量、累计故障时间、累计运行时间等 月值：月累计热量、月累计流量、月最大值、月累计故障时间等 Data-logger Logbook 事件记录功能 —— Logbook 1 F0( 管道中有气泡 ) 13 主电源断电（适用于电源供电积分仪） 2 F1( 供水侧温度探头断线 ) 14 CRC 校验失败（电路故障） 3 F2( 回水侧温度探头断线 ) 15 校准参数被修改 4 F3( 温度测量电路故障 ) 16 F7 预告警（ EEPROM 将出现故障） 5 F5( 供水侧温度探头短路 ) 17 电池掉电，重新上电 6 F6( 回水侧温度探头短路 ) 18 修改热表时间、日期 7 F8( 温度探头故障 F1,2,3,5,6 出现超过 8 小时 ) 19 修改年结算日 8 F9( 特定用途集成电路故障 ) 20 修改月结算日 9 供水温度超上限（超过 130 ℃） 21 热表主复位（需进入 Eb 模式） 10 供水温度超下限（低于 45 ℃， 适用于冷热表） 22 复位运行时间 / 故障时间 / 正常运行时间 （全部复位） 11 最大流量超限（超过 qs ） 23 复位故障时间 12 结垢预告警 24 复位最大值 Logbook 作为 UH50 热量表的标配功能，能够存储如下 24 个事件。如同热 表的运行日志，详细记录运行过程中可能发生的故障或对热表进行的操 作。 目前只有兰吉尔 UH50 热量表具备此功能。卡姆鲁普在开发的 Mutical 402 积分仪将添加此功能，目前尚未上市。 关于 M-Bus 读取频率 + 2WR6 的 M-Bus 是与热表电子部分集成在一起的，不像 UH50 是模块化设计。因此每次通 过 M-Bus 读取 2WR6 都将直接读取 EEPROM ，如果频率过于频繁，将会影响 EEPROM 的使 用寿命，进而影响热表的使用寿命（而不仅仅是影响电池的使用寿命）。允许的最高读 取频率是，如果采用 300baud 的波特率， 1 天 1 次；如果采用 2400baud 的波特率， 3 小时 1 次。目前我们使用的都是 2400baud 读取，因此只要不低于 3 小时 1 次就好了。 + 热表通过 M-Bus 界面与上端主站通讯，并不会影响热表电池的寿命，只有 M-Bus 模块与积 分仪本身之间的数据交换才会消耗热表电池电量。因此是否影响热表电池寿命，不取决 于主站抄表的频率，而取决于热表所处于的 M-Bus 通讯模式。一般情况下，到货的热表 都是默认处于标准 M-Bus 读取模式下。在这个模式下， M-Bus 模块与积分仪之间通讯的频 率是 1 次 /15 分钟。也就是说，如果抄表频率大于 1 次 /15 分钟（例如，