制程能力分析规定.doc

TTE）厦门吉致电子有限公司 制程能力分析规定 文件编号：WI-20-00-004 发行日期:2001.08.01 版 次：1.0 制订部门：品保部 核准 审核 作成 制程能力分析规疋文件编号：WI-20-00-004 页 次：修订页 制程能力分析规疋 中请号 版次 修订日期 修订内容 修订者 1.0 2001.07.28 初订 张瑞林 1.目的： 1?1调查制程工程是否安全。 1?2分析制程能力。 1?3保持制程在安定状态。 1?4作为工程改善之比较。 1. 5藉由制程之变化加以改善进而提高品质并降低成本。 2 ?范围：凡使用制程能力分析均适用。 定义：无。 内容: 4.1使用时机： 4.1.1先期品质规划阶段使用。 4. 1. 2制程管制中使用。 4?2制程能力分析： 4.2.1制程准确度（Ca）:各工程之规格中心值设定的目的就是希望各 工程制造出来的各个产品之实际值，能以规格中心为中心，呈左 右对称的常态分配，而制造时，也应以规燈中心值为目标，而从 生产过程中所获得的资料，其实际平均值（文）与规格中心值（U ） 之间偏差的程度，称为制程准确度。_ 实际中心值-规格中心值 （X — U ） Ca= % = % 规格容许差 T/2 _ T为规格上限一规格下限=（公差范围）由上式可得知U与文之 差愈小吋，5值也愈小，也就是晶质愈接近现定要求的水准。 4. 2. 2制程精密度（CP）：各工程规格上下限之设定目的，是希望制造 出来的各个产品之品质水准都能在规格上下限的容许差范围内， 而比较规格容许差与实际群体的“估计标准差”，即为制程精密 度。 规格容许差规格公差 T 6二 = = 3 o 6 o 6 o 由上式可知Cp愈大，则表示此制程愈精密，愈适合此产品 之生产。 4. 2.3制程能力指数CPk：用以衡量制程能力，以作为改进制程的 参考，其计算公式如下：(PpK计算公式同Cpk计算公式) 4. 2. 3. 1 Cpk=CH ( 1 -| Ca| ) Zmin 4. 2. 3.2 CPk = 3 A (J R/d2 A 0：估计标准差 CL：单边规格上限或下限 UCL：双边规格上限 LCL：双边规格下限 X：制程平均值 Cpk：制程能力指数 d2：系数 Ppk：初期制程能力指数 Z C L-X 单讪抑格z- /yL 1 u J A 0 UCL-X 双边规格Zmax= A 0 LCL-X Zmin= A 0 Cpk Zmin n 2 3 4 5 3 d2 1. 13 1.69 2. 06 2. 33 4. 2. 4制程能力指标： 4. 2. 4. 1初期量试品:PpK^1.67能力足够，PpK1.67能 力不足需改善。 制程能力分析规定 文件编号：WI-20-00-004 页 次：3/3 4. 2. 4. 2量产制品:CPk^l.33能力足够，CPk1.33能力 不足需改善. 4. 2. 5制程能力不足之改善： 4. 2.5. 1采取包括全检在内之临时对策，以防止不良品流出 厂外。 4. 2. 5. 2找出能力不足之原因，并以有效的对策加以改善。 4. 2. 5. 3定期分析制程能力，以便判断品质水准，并提出改 善对策。 5?相关附件：无。 6?参考文件：无。