高等结构分析:第一讲 电子显微镜原理与应用简介.pdf

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显微分析技术系列讲座 显微分析技术 感知物体形貌的两种方式 波经过透镜,直接成像 2015/6/30 2 成像原理的共同特点: 成像原理的共同特点: 光源透过样品,直接放大成像 探针在样品表面光栅式扫描,间接成像 光学显微镜(OM) : 超高真空变温扫描探针显微镜 扫描隧道显微镜(STM) : (可见光光源)光束经玻璃透镜放大成像 扫描探针为锐利的钨丝针尖 透射电子显微镜(TEM) : 原子力显微镜(AFM) : 扫描探针为连接在灵敏的微悬臂上的Si 或Si N (电子枪光源)电子束经电磁透镜放大成像 3 4 材料的锥形针尖 在样品表面接触,间接成像 5 4 6 1 1987

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