网站大量收购闲置独家精品文档,联系QQ:2885784924

基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计.pdf

基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计.pdf

  1. 1、本文档共40页,其中可免费阅读12页,需付费230金币后方可阅读剩余内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
摘 要 集成电路( IC )测试是伴随着电子技术的发展而来的,数字集成芯片在使用 过 程中容易被损坏,用肉眼不易观察。早期的人工测试方法对一些集成度高, 逻辑复 杂的数字集成电路显得难于入手,因而逐渐被自动测试所取代,因此很需要 设计一 种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。 本系统以单片机

文档评论(0)

151****7744 + 关注
官方认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

认证主体杭州余杭浦振装饰工程队
IP属地浙江
统一社会信用代码/组织机构代码
92330110MA2KEBRJ2Q

1亿VIP精品文档

相关文档