统计制程管制(SPC)1.pptx

統計製程管制(SPC);課程內容;控制圖的歷史;控制圖在英國及日本的歷史;SPCSQC;預防或容忍?;控制圖的目的;控制圖種類(以數據來分);“n”=10~25;搜集數據;控制圖種類(依用途來分);計量值的分佈表達;控制圖原理說明;控制圖原理;;中央極限定理;有限群體修正係數;個別值的正態分佈;管制界限和規格界限;製程的組成以及其波動的原因;過程控制和過程能力;;“α”及“β”風險說明;控制界限;控制圖設計原理;控制圖兩種錯誤的分析;CASE STUDY;使用個別值時，其分佈 比較不近似正態分佈， 且其檢出力較差。;普通原因、特??原因;局部措施和對系統採取措施;持續改進;過程改進循環;控制圖的益處;使用控制圖的准備;質量特性與控制圖的選擇;質量特性與控制圖的選擇;使用控制圖的注意事項;時間;使用控制圖的注意事項;;使用控制圖的注意事項;;建立控制圖的四步驟;建立X-R圖的步驟A;;組數的要求(最少25組);每個子組的平均值和極差的計算;平均值和極差;Ｂ計算控制限;;Ｃ過程控制解釋;控制圖的判讀;控制圖的判讀;控制圖的判讀;控制圖的觀察分析;控制圖的觀察分析;控制圖的觀察分析;控制圖的觀察分析;控制圖的觀察分析;為了繼續進行控制延長控制限;Case study;Case study;Ｄ過程能力解釋;;;;製程績效指標;群體 平均值=μ 標准差=σ;;Case study;;;何時應用Cmk指數;Case study;Case study;LSL;WHAT IS MOTOROLA’S 6σ;;A收集數據：在計算各個子組的平均數和標准差其公式分別如下：;B計算控制限;C過程控制解釋 (同X-R圖解釋);D過程能力解釋;Case study;Case study;A收集數據 一般情況下，中位數圖用在樣本容量小於10的情況，樣本容量為奇數時更為方便。如果子組樣本容量為偶數，中位數是中間兩個數的均值。;B計算控制限;C過程控制解釋 (同X-R圖解釋);估計過程標准偏差：;Case study;Case study;單值控制在檢查過程變化時不如X-R圖敏感。。 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時要非常小心。 單值控制圖不能區分過程零件間重復性，最好能使用X-R。 由於每一子組僅有一個單值，所以平均值和標准差會有較大的變性，直到子組數達到100個以上。;A收集數據 收集各組數據 計算單值間的移動極差。通常最好是記錄每對連續讀數間的差值(例如第一和第二個讀數點的差，第二和第三讀數間的差等)。移動極差的個數會比單值讀數少一個(25個讀值可得24個移動極差)，在很少的情況下，可在較大的移動組(例如3或4個)或固定的子組(例如所有的讀數均在一個班上讀取)的基礎上計算極差。;B計算控制限;C過程控制解釋 審查移動極差圖中超出控制限的點，這是存在特殊原因的信號。記住連續的移動極差間是有聯系的，因為它們至少有一點是共同的。由於這個原因，在解釋趨勢時要特別注意。 可用單值圖分析超出控制限的點，在控制限內點的分布，以趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用於X圖的規則來解釋時，可能會給出實際上不存在的特殊原因的信號;估計過程標准偏差： 式中，R為移動極差的均值，d2是用於對移動極差分組的隨樣本容量n而變化的常數。;Case study;Case study;不良和缺陷的說明;P控制圖的制做流程;建立p圖的步驟A;A1子組容量、頻率、數量;A2計算每個子組內的不合格品率;A3選擇控制圖的坐標刻度;A4將不合格品率描繪在控制圖上;Ｂ計算控制限;計算平均不合格率及控制限;畫線並標註;;Ｃ過程控制用控制圖解釋;分析數據點，找出不穩定的證據;尋找並糾正特殊原因;控制圖的即時性;重新計算控制限;收集數據;Ｄ過程能力解釋;過程能力解釋;計算過程能力;評價過程能力;改善過程能力;繪制並分析修改後的過程控制圖;Case study;Case study;不合格品數np圖;A收集數據;B計算控制限;過程控制解釋、過程能力解釋;100;Case study;Case study;缺陷數c圖;A收集數據;B計算控制限;過程控制解釋、過程能力解釋;Case study;Case study;單位產品缺陷數的u圖;A收集數據;B計算控制限;過程控制解釋、過程能力解釋;Case study;Case study