QC七大手法讲师培训课程.ppt

* Part4 演练 * 带状图演练题 * 20% 0% 40% 60% 80% 100% 1996年 1997年 1998年 1999年 桃园厂 中坜厂 芦竹厂 南崁厂 40% 35% 15% 30% 27.5% 24% 37% 37.5% 40% 23% 25% 26% 10% 10% 10% 10% 南崁厂 芦竹厂 中坜厂 桃园厂 南崁厂 芦竹厂 中坜厂 桃园厂 南崁厂 芦竹厂 中坜厂 桃园厂 (20/50)×100%=40% 带状图演练题解答 * 习题:以下资料为小明每月支出金额统计表1.1 请绘出小明每月支出金额推移图.1.2 请问在那些月份,小明支出金额高于5~10月份之平均值? 月份 支出项目 * 伍之贰:制程统计技术管制图(SPC) World Class Company Unimicron * QC7手法课程大纲 (零) 数据(30hr) （一）层别法(40min) （二）查检表(40min) （三）柏拉图(1hr) （四）特性要因图(1hr) （五）图表(1hr30min) （六）直方图(40min) （七）散布图(40min) 包含: 长条图,圆型图, 带状图,雷达图, 甘特图,管制图 而其中所有图形的基础则在于数据 12/13 12/21 * 个别QC7手法课程架构 介绍(5“) 主题/讲师/课程介绍 内容讲授(40“) 定义 绘制/使用步骤 实例解说/注意要点 演练(15“) 考试(30“) * 管制图 Part 1定义 管制图简介 管制图之基本原理 管制图的功能区别 管制图的种类 Part 2 绘制/使用步骤 管制图的绘制要领 Part 3 实例解说/注意要点 管制图之判读 Part4 演练 实例演练 * Part1 定义 * 何谓统计制程管制 SPC----Statistical Process Control Statistical----统计,以品管手法收集代用特性之资料后,以统计图图示方式表示 Process----制程,一系列的操作或活动称之 Control----管制量测(代用)特性 * SPC的源起及发展 1924 Shewhart 提出管制图概念 1931 Shewhart 出版统计制程管制一书 1946 日本科技连成立 1950 Deming访问日本举办8天之讲习会 1960年代 统计品管在日本广为推行 1974 美国成立第一个品管圈 1981 Deming发表“日本能我们为什么不能”演讲 * SPC的观念与应用 质量(Quality):符合客户的需求 变异(Variation):偏离规格,差异 非机遇性原因----为某一人员,机台,材料,方法,量测或环境等可确认的原因 机遇性原因----为自然,不规则,不可控制的且完全无法消除的原因 统计制程常用工具 直方图,管制图 * 管制图简介 1924年休哈特(W.A.Shewhart)提出了管制图(Control Chart)的概念与方法。管制图是一种关于质量的图解记录，操作人员利用所收集的资料计算出两个管制界限(上限及下限)，且画出这两个管制界限，在产品制造过程中随时将样本信息点入管制图内，以提醒操作人员。如发现有超出管制界限外之点或是出现特殊图样(异常现象)时，应立即由人员、机械设备、材料、方法(4M)或环境(1E)等方向进行层别以追查原因，进而改善制程。 * 管制图之基本原理 管制图为一种图形表示工具，用以显示从样本中量测或计算所得之质量特性。典型之管制图包含一中心线(Center Line, CL)，用以代表制程处于统计管制内时质量特性之平均值。此图同时包含两条水平线，称为管制上限(Upper Control Limit, UCL)及管制下限(Lower Control Limit, LCL) ，用来表示制程或质量变异的容许范围或均匀性。管制图可用来判断质量变异之显著性，以测知制程是否在正常状态。图一为管制图之范例。 =中心线+3σ =中心线-3σ * 管制图功能区别 机遇性原因所发生的偏差 非机遇性原因所导致的偏差 管制上限 UCL 管制下限 LCL 中心限 CL 机遇性原因所发生 非机遇性原因所导致的偏差在管制界线外 * 管制图的种类 依用途可分为 .解析用管制图 主要目的在于调查制程是否处于稳定状态的管制图 由主管或工程师来执行，确定制程处于稳定状态且能力 足够 .管制用管制图 主要目的在维持在稳定状态的管制图 由现场作业人员来执行，如超出管制界线外，作业员应立即采取下列措施： 追查不正常原因 迅速消除此项不正常原因 采取预防再发生措施 * 管制图的种类 依性质可分为 .计量值管制图 质量特性：能用尺寸、重量、厚度、化学成品等加以量测称之 .计数值管制图 质量特性：相同的产品