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半导体器件物理
第三章化合物半导体器件
半导体器件物理
场效应晶体管概述
-Field effect transistor (FET)
• 器件中的电流
J e N v
• 半导体中载流子的运动
– 扩散
– 漂移
半导体器件物理
• 双极型器件(pn结二极管、双极晶体
管)
– 两种载流子都对电流有重要贡献
– 分析电流主要从中性区少数载流子分布入
手,主要分析少数载流子扩散电流
• FET器件
– 主要是多数载流子对电流有重要贡献
– 分析电流主要从多数载流子在电场下的漂移
运动入手
半导体器件物理
场效应晶体管类型
• JFET结型场效应晶体管
• MESFET 肖特基栅场效应晶体管
• HEMT高电子迁移率晶体管
• MOSFET
半导体器件物理
场效应晶体管(FET)
基本工作原理
• 为三端或四端器件:栅(G )、源(S)、漏
(D )、(衬(B ))
• 栅极为控制极,通过电场效应控制栅下能参与输运
的载流子数量。
• 源漏电压形成的电场使得栅下的载流子发生漂移运
动形成电流。
半导体器件物理
FET 的转移特性
半导体器件物理
FET 的输出特性
半导体器件物理
FET 中的基本功能模块
• PN结
• MS结构
• MOS结构
• 异质结
半导体器件物理
3.1 肖特基势垒和欧姆接触
一、肖特基势垒
– 金属半导体接
触,在接触界
面附近形成的
势垒
• 理想情形
半导体器件物理
• 势垒高度
qφBn qφm − qχ
• 半导体自建电压
V φ −φ φ V + V
bi m s Bn bi n
• 半导体表面耗尽
区宽度 2εs
W (V =− V )
bi
qND
• 半导体内单位面
积空间电荷 Q qN W
SC D
ε
• 单位面积耗尽层 C s
电容 W
半导体器件物理
• 一般情形
金属与半导
体之间有原
子尺度的界
面层;
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