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表5 -7花键位置公差 返 回 图5-8花键对称度公差标注 返 回 表5 -8花键对称度公差 返 回 表5 -9花键表面粗糙度(参考) 返 回 第四节 表面粗糙度的符号代号及其注法 一、表面粗糙度的符号 表面粗糙度的符号及说明见表4-4 。 国标规定，有关表面粗糙度的各项规定按功能要求给定，并注在符号中相应的位置。若仅表示需要加工(采用去除材料的方法或不去除材料的方法)，但对表面粗糙度的其他规定没有要求时，允许只注表面粗糙度符号。 二、表面粗糙度代号 在表面粗糙度符号的基础上，注出表面粗糙度符号数值及其有关的规定项目后就形成了表面粗糙度代号。表面粗糙度数值及其有关的规定在符号中注写的位置，如图4-6所示。 下一页 第四节 表面粗糙度的符号代号及其注法 1.表面粗糙度高度参数 特征参数Ra的表面粗糙度代号标注见表4-5。 表面粗糙度高度参数Ra , Ry , Rz在代号中用数值标注时，除参数代号Ra可省略外其余在参数值前需注出相应的参数代号。 2.在图样上的标注方法 (1)表面粗糙度的代〔符〕号一般注在可见轮廓线、尺寸界限、引出线或它们的延长线上，也可以注在指引线上，如图4-7( a)所示;符号的尖端必须从材料外指向表面，且代号中数字及符号的方向都必须与尺寸数字方向一致，如 图4-7(b)所示。 下一页 上一页 第四节 表面粗糙度的符号代号及其注法 (2)当零件表面加工有特殊要求时，采用长边带横线的表面粗糙度符号，加工方法注写在横线上，带有横线的表面粗糙度符号应按图4-8所示的规定标注。 (3)在同一图样上，同一表面一般只标注一次代[符]号，并尽可能标注在轮廓线上。当地方狭小或不便于标注时，代[符]号可以引出标注。 当零件的大部分表面具有相同的表面粗糙度要求时，对其中使用最多的一种代[符]号可以统一标注在图样的右上角，并加注“其余”两字，如图4-7 (a)所示。 (4)当零件上所有表面的表面粗糙度要求相同时，其代[符]号可在图样的右上角统一标注，如图4-9所示。 上一页 返 回 第五节 表面粗糙度的测量 一、目测检查 当工件表面粗糙度比规定的粗糙度明显好或不好时，不需用精确的方法检验。工件表面存在着明显影响表面功能的表面缺陷时，选择目测法检验判定。通常Ra1.6 um时目测。 二、比较法 比较法是将被测表面与表面粗糙度样块相比较来判断工件表面粗糙度是否合格的检验方法。 比较时，可借助于放大镜、比较显微镜等工具，以减少误差，提高准确度。比较时，样块与被测表面的加工纹理方向保持一致。Ral.6~Ra0.4u m时用放大镜，Ra0.4um时用比较显微镜。 下一页 第五节 表面粗糙度的测量 比较法简单易行，适合车间于车间现场测量，常用于中等或较粗糙表面的测量。由于其评定的可靠性在很大程度上取决于检验人员的经验，因而主要用于评定表面粗糙度要求不很严格的表面。 三、光切法 光切法是利用“光切原理”，借助于双管显微镜来测量表面粗糙度的方法。 下一页 上一页 第五节 表面粗糙度的测量 四、感触法 感触法(又称针描法或轮廓法)测量表面粗糙度值原理:是利用传感器端部的金刚石触针直接在被测表面上轻轻划过，被测表面的微观不平度使触针在垂直于表面轮廓方向上产生上、下移动。仪器通过传感器，将这种移动转换为电量变化，再经滤波器将表面轮廓上属于形状误差和波度的部分滤去，留下属于表面粗糙度的轮廓曲线信号送入放大器，在记录装置上得到实际轮廓的放大图，可直接从仪器指示表上得到Ra值或其他参数值。 五、干涉法 干涉法是利用光学干涉原理来测量表面粗糙度的方法，常用的仪器为干涉显微镜，其测量原理如图4-13所示。 上一页 返 回 图4-1 零件实际表面的几何误差 返 回 表4-2表面粗糙度的表面特征及应用举例 下一页 表4-2表面粗糙度的表面特征及应用举例 返 回 上一页 表4-3 各类加工方法对应的表面粗糙度Ra 下一页 表4-3 各类加工方法对应的表面粗糙度Ra 返 回 上一页 表4-4 表面粗糙度符号及意义 返 回 图4-6 表面粗糙度代号 返 回 表4-5 表面粗糙度高度参数标注示例及意义 返 回 图4-7 轰面粗糙磨代号存图样的标件 返 回 图4-8 带横线的表面粗糙度符号标注 返 回 图4-9 表面粗糙度代号的统一标注 返 回 图4-13 干涉显微镜 返 回 第五章 平键和花键联结的技术测量 第一节 平键联结的技术测量 第二节 矩形花键联结的技术测量 第一节 平键联结的技术测量 平键分为普通平键与导向平键，前者一般用于固定联结，后者用于可移动的联结。平键对中性好，制造、装配均较方便。平键联结是由键、轴槽和轮毅槽三部分组成，其结构如 图5-1所示。 平键联结的公差