半导体测试技术半导体测试技术试卷（半导体测试技术）.docVIP

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2021-07-31 发布于河北
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半导体测试技术半导体测试技术试卷（半导体测试技术）.doc

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试卷第 PAGE 1 页共 NUMPAGES 1 页半导体测试技术半导体测试技术试卷（半导体测试技术）姓名:_____________ 年级:____________ 学号:______________ 题型选择题填空题解答题判断题计算题附加题总分得分评卷人得分 1、简要说明为什么压电式传感器只适合作动态测量，而不适合检测静态信号。 2、TexasInstruments 3、STMicroelectronics 4、StrategicOutsourcingModel（战略外包模式） 5、Motorola 6、ADI 7、Fabless 8、Qualcomm 9、Broadcom 10、Marvell 11、Nvidia 12、TSMC 13、UMC 14、SMIC 15、Silterra 16、Open-short串行静态测试方法优缺点。 17、Open-short功能测试优缺点。 18、IDD静态电流测试方法。 19、VOH/IOH静态测试方法。 20、IIL串行测试方法。 21、IIH/IIL集体测试法优缺点。 22、测试的一般要求。 23、静电的产生。 24、静电对电子器件的危害。 25、基本注意事项。 26、数字电路测试的流程。 27、模拟电路的测试 28、分立元件的测试。 29、核磁共振 30、提高家电产品可靠性的方法。 31、电解电容器的结构特性。 32、电解电容器在电路中的选择原则。 33、NPN三极管放大时管子内部的工作原理。 34、电位器 35、碳膜电阻器 36、光敏电阻 37、气敏电阻 38、半导体 39、本征半导体 40、本征激发 41、N型半导体 l 61、磁滞回线 62、本征吸收 63、阴极射线致发光 64、敏化剂 65、猝灭剂 66、激活剂 67、等离子体 68、测试技术的基本任务是获取（）。 69、时间常数τ是（）阶传感器动态特性参数，时间常数τ越（），响应越快，响应曲线越接近于输入阶跃曲线。 70、电荷放大器常用做（）的后续放大电路，该放大器的输出电压与传感器产生的电荷量成正比，与电缆引线所形成的分布电容无关。 71、当测量较小应变值时，应选用电阻应变效应工作的应变片，而测量大应变值时，应选用（）效应工作的应变片，后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。 72、已知某周期信号的周期为0.2s，则该信号的3次谐波分量的频率为（）Hz。 73、周期信号的频谱具有（）性，谐波性和衰减性。