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霍尔效应及霍尔元件基本参数的测量
086041B班D组 何韵
摘要:霍尔效应是磁电效应的一种,利用这一现象制成的各种霍尔元件,广泛地应用于工业自动化技术、检测技术及信息处理等方面.霍尔效应是研究半导体材料性能的基本方法.本实验的目的在于了解霍尔效应的原理及有关霍尔器件对材料的要求,使用霍尔效应试验组合仪,采用“对称测量法”消除副效应的影响,经测量得到试样的VH—IM和VH—IS曲线,并通过实验测定的霍尔系数,判断出半导体材料试样的导电类型、载流子浓度及载流子迁移率等重要参数.
关键词:霍尔效应hall effect,半导体霍尔元件semiconductor h
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