可靠性寿命计算.doc

PAGE PAGE 1 1、半导体产品使用寿命有三个主要阶段： （1）早期故障率（或婴儿死亡率）– 此阶段的特点是初始故障率较高，后期将迅速降低。 这一阶段故障率通常以“每百万缺陷器件数”(dppm) 衡量。defective parts per million （2）正常使用： 此阶段的故障率在整个器件使用过程中都保持稳定。 此故障率以“FIT”为单位，或作为以小时为单位的“平均故障间隔时间”(MTBF)。 其中，故障率1 Fit,可解释为一千个产品（103）工作100万（106）小时只有一次故障，即10-9/h 劣化阶段：此阶段表示固有劣化机制开始占主导地位并且故障率开始呈几何级增