SPC投影培训教材.pptx

统计过程控制;胡 长 根 先生 确利达顾问有限公司 ----高级顾问 IRCA EMS 注册主任审核员 CNAB QMS 注册审核员 注册管理咨询顾问;质量管理发展历程;什么是统计学？ 《中国大百科全书》:统计 学是一门社会科学 《大英百科全书》:统计学是根据数据进行推断的艺术和科学 令人遗憾的中国统计学科 统计学具有阶级性吗？;我们为什么实施SPC?;变差是什么？;各种流程中变异无处不在 质量特性的直方图表示;变差的起源……;不理睬……;正态分布篇;基本统计术语;样本 样本是总体的一个子集 ,是从总体中抽取的能代表母体特征的一部份 ,对样本进行测量后得到的样本数据,用 n 表示;基本统计术语;基本统计术语;标准差 是方差的正平方根,表示了一组数据的分散程度。 总体标准差用σ表示 样本标准差用 S 表示;作用 ;∑ ;∑ ;;;S ;练 习 给定样本： 10,16,18,20,27,15,14,8.求样本标准差 ;R = X - X;练 习 给定样本： 10,16,18,20,27,15,14,8.求极差 ;当你测量了一定数量的产品后，就会形成一条 曲线，这便是质量特性X的分布：;什么是正态分布 ?;;;规格范围 合格概率 缺陷概率 +/-1 68.27% 31.73% +/-2 95.45% 4.55% +/-3 99.73% 0.27% +/-4 99.994% 0.0063% +/-5 99.99994% 0.000057% +/-6 99.9999998% 0.000000198%;如何计算正态分布和“工序西格玛 Z” ?;USL - μ;LSL - μ;从上述公式可看出,工序西格玛值是平均值与规格上下限之间包括的标准差的数量,表示如下图:;通过计算出的Z值,查正态分布表,即得到对应的缺陷概率.;;正态分布的位置与形状与过程能力的关系图;;分布位置及形状均不理想 ;;;控制图制作篇;贝尔实验室的Walter休哈特博士在二十世纪二十年代研究过程时,发明了一个简单有力的工具,那就是控制图,其方法为:;控制图-控制过程的工具;控制图的分类;计量型控制图 ;计量型控制图 ;;计数型控制图;计数型控制图的计算公式;X;;? 日期 ;制作 的准备 ;制作均值极差图;;;;R;计算均值图控制限;计算极差图控制限;X-R图常数表 ;将计算结果绘于;;练 习;分析控制图;;;X 图上的数据点超出上下控制界限的可能原因： 控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 过程发生变化 ;Upper Control Limit (UCL);Upper Control Limit (UCL);;;;Upper Control Limit (UCL);Upper Control Limit (UCL);控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 过程发生变化 过程均值发生变化 抽样数据来自完全不同的两个整体;R 图;控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 测量系统分辩率不够 过程发生变化;R 图;R 图;R 图;R 图;R 图;R 图;R 图;描点错误 测量系统发生变化 质量特性分布发生变化 过程发生变化过程均值发生变化 抽样数据来自完全不同的两个整体;X –MR Chart;收集数据 进行测量系统分析 确定子组容量（X-MR图的子组容量为1） 确定子组频率 确定子组数（X-MR图需子组数达100个以上，这样可以全面判断过程的稳定性）;;计算MR值;将 X 和计算出的MR值分别绘在X图上和MR图上;;计算移动极差均值;计算单值图控制限;计算极差图控制限;X-MR图常数表 ;练 习;控制界限的更换篇;控制界限建立以后并非一成不变，因为过程永远是处于波动的，因此控制界限需定期检讨，以判断是否需要更换控制界限，检讨控制界限的周期，应根据过程变化而定。;过程流程发生变化时：;使用新的设备：;现有过程发生失控，经过改善过程重新受控后：;对过程普通