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各种仪器分析的原理及选择 分析方法 缩写 分析原理 谱图的表示方法 提供的信息 紫外吸收光谱 UV 吸收紫外光能量，引起分 子中电子能级的跃迁 相对吸收光能址随吸收 光波长的变化 吸收峰的位置、强度和形 状，提供分子中不同电子 结构的信息 荧光光谱法 FS 被电磁辐射激发后，从最 低总线激发态回到单线 基态，发射荧光 发射的荧光能量随光波 长的变化 荧光效率和寿命，提供分 子中不同电子结构的信 息 红外吸收光谱 法 IR 吸收红外光能量，引起具 有偶极矩变化的分子的 掘动.转动能级跃迁 相对透射光能战随透射 光频率变化 峰的位賈.强度和形状， 提供功能团或化学键的 特征振动频率 拉曼光谱法 Rani 吸收光能后，引起具有极 化率变化的分子振动，产 生拉曼散射 散射光能量随拉曼位移 的变化 峰的位置.强度和形状， 提供功能团或化学键的 待征振动频率 核瞪共振波谱 法 NMR 在外磁场中.具有核礎矩 的原子核，吸收射频范 产生核自旋能级的跃 迁 吸收光能量随化学位移 的变化 峰的化学位移、强度、裂 分数和偶合常数，提供核 的数目.所处化学环境和 几何构型的信息 电子顺險共掘 波谱法 ESR 在外施场中，分子中未成 对电子吸收射频能5L产 生电子自旋能级跃迁 吸收光能量或微分能量 随磁场强度变化 谱线位置、强度.裂分数 目和超精细分裂常数，提 供未成对电子密度.分子 键特性及几何构型信息 质谱分析法 MS 分子在真空中被电子袈 击，形成离子，通过电磁 场按不同m/e分离 以棒图形式表示离子的 相对峰度随ni/e的变化 分子离子及碎片离子的 质量数及其相对峰度，提 供分子童.元素组成及结 构的信息 气相色谱法 GC 样品中各组分在流动相 和固定相之间，由于分配 系数不同而分离 柱后流出物浓度随保留 值的变化 峰的保留值与组分热力 学参数有关，是定性依 据；峰面积与组分含量有 关 反气相色谱法 IGC 探针分子保留值的变化 取决于它和作为固定相 的聚合物样品之间的相 互作用力 探针分子比保留体积的 对数值随柱温倒数的变 化曲线 探针分子保留值与温度 的关系提供聚合物的热 力学参数  裂解气相色谱 法 PGC 高分子材料在一定条件 下瞬间裂解.可获得具有 一定特征的碎片 柱后流出物浓度随保留 值的变化 谱图的指纹性或特征碎 片峰.表征聚合物的化学 结构和几何构型 擬胶色谱法 GPC 样品通过凝胶柱时，按分 子的流体力学体积不网 进行分离.大分子先流出 柱后流出物浓度随保留 值的变化 高聚物的平均分子量及 其分布 热重法 TG 在控温环境中，样品莹量 随温度或时间变化 样品的重量分数随温度 或时间的变化曲线 曲线陡降处为样品失図 区，平台区为样品的热稳 定区 热差分析 DTA 样品与参比物处于同一 控温环境中，由于二者导 热系数不同产生汩苣，记 录温度随环境温度或时 间的变化 温差随环境温度或时间 的变化曲线 提供聚合物热转变温度 及各种热效应的信息 示差扫描处热 分析 DSC 样品与参比物处于同一 控温环境中，记录维持温 差为零时，所需能量随环 境温度或时间的变化 热*:或其变化率随环境 温度或时间的变化曲线 提供聚合物热转变温度 及各种热效应的信息 静态热一力分 析 TMA 样品在恒力作用下产生 的形变随温度或时间变 化 样品形变值随温度或时 间变化曲线 热转变温度和力学状态 动态热一力分 析 DMA 样品在周期性变化的外 力作用下产生的形变随 温度的变化 模It或々6随温度变化 曲线 热转变温度模量和壊6 透射电子显微 术 TEM 高能电子束穿透试样时 发生散射.吸收.干涉和 衍射，使得在相平面形成 衬度，显示出图象 质厚衬度象.明场衍衬 象.暗场衍衬象、晶格条 纹欽、和分子欽 晶体形貌、分子量分布. 微孔尺寸分布、多相结构 和晶格与缺陷等 扫描电子显微 术 SEM 用电子技术检测高能电 子束与样品作用时产生 二次电子.背散射电子. 吸收电子.X射线等并放 大成象 背散射象、二次电子象. 吸收电流彖.元素的线分 布和面分布等 断口形貌、表面显微结 构、薄膜内部的显微结 构.微区元素分析与定量 元索分析等 PAGE PAGE #. ?仪器名称：X射线荧光光谱仪 ?基本功能： 对样品作无机元素的定性定量分析，可分析元素范围为：5B~92U? ?仪器用途： 该仪器对分析样品要求低，固体块状，粉状，金属等都可直接分析，而不需要溶样、 分析速度快。不损坏样品；故广泛用于新型材料，钢铁冶金、有色金属、化工、环境、电子等 部门。 2. ?仪器名称：扫描俄歇微探针(SAM)； ?基本功能： 可进行样品表面的微区选点分析(包括点分析，线分析和面分析)； 可进行深度分析； 化学价态研究 ?用途：纳米薄膜材料，微电子材料的农面和界面研究及摩擦