电子元器件检验规范标准书.docx

电子元器件检验规范标准书 Last updated on the afternoon of January 3, 2021 电子元器件检验规范标准书 订期 修日 修订 单号 页次 核 审 R / A 0 / / E □ n n □ n n □ n n □ □ □ □ n n □ □ □ □ n n □ □ □ □ □ □ □ □ □ □ □ □ □ □ □ □ □ □ ? ? 准 批 ? ? 核 审 制 编 部分电子元器件检验规范标准书 IC类检验规范（包括BGA） 1.目的 作为IQC人员检验IC类物料之依据° 2.适用范 围 适用于本公司所有IC （包括BGA）之检验°  3.抽样计 划 依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。 4.允收水准 （AQL） 严重缺点（CR）: 0; 主要缺点（MA）:; 次要缺点（MI）:? 5.参考文 件 无 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注 包装检验 MA a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确，任何有误,均不可接受。 b?包装必须采用防静电包装，否则不可接受C 目检 数量楡验 MA a.实际包装数量与Label ±的数疑是否相同,若不同不可接 受； b?实际来料数量与送检单上的数疑是否吻合，若不吻合不可 接 目检 点数 外观检验 MA Marking错或模糊不清难以辨认不可接受； 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受； 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过，且未露出基质，可接受；否则不可接受； Pm氧化生锈，或上锡不良，均不可接受； f?元件脚弯曲，偏位，缺损或少脚，均不可接受； 目檢或 10倍以上 的放大锐 检验时，必须佩 带静电带。 备注：凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖 免检印章；该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验:，拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位普有没有变成粉红 色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。 （三）贴片元件检验规范（电容，电阻，电感…） 1.目的 便于IQC人员检验贴片元件类物料c 2.适用范 围 适用于本公司所有贴片元件（电容，电阻，电感…）之检验C， 3.抽样计 划 依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。 4.允收水准 （AQL） 严重缺点（CR）: 0; 主要缺点（MA）：； 次要缺点（MI）:. 5.参考文 件 《LCR数字电桥操作指引》 《数字万用液操作指引》 检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注  包装检验 MA 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是 否都正确，任何有误，均不可接受c 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。 目检 数量检验 MA a. 实际包装数量与Label上的数呈是否相同，若不同不可接 受； 实际来料数呈与送检单上的数呈是否吻合，若不吻合不可接受。 目检 点数 外观检验 MA a. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受； b?来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； C?本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受； 元件封装材料液面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过，且 未露岀基质，可接受；否则不可接受； Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受； 目检 10倍以上的放 大锐 检验时，必 须佩带静电 带。 电性检验 MA 元件实际测量值超出偏差范围内. LCR测试仪 数字万用表 检验时，必 须佩带静电 带。 二极管类型 检 测 方 法 LED 选择数字万用表的二极管档，正向测呈，led需发岀与要求相符的颜色的光，而反向测呈不发光 管不合格） 注：有标记的一端为负极。 否则该二极 其它二牧管 选择数字万用表的二极管档，正向测蚤，渎数需小于1,而反向测量決数需无穷大；否则该二极管不合格。 注：有颜色标记的一端为负极。 备注 抽样计划说明：对于CHIP-极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每 盘中取35pcs元件进行检測；AQL不变。检验方法见M LCR数字电桥测试仪操 作指引”和” 数字万用表操作指引” 0 !1!插件用电解电容. !1! 插件用电解电容. 1.目的 作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。 2.适用范围 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。 3.抽样计划 依MIL-STD-105E, LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》° 4.允收水准 （AQL） 严重缺点（CR）： 0; 主要缺点（M