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;;二、工艺规程格式(工艺过程卡、工序卡、工艺卡);;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;双边余量 : 对于外圆内圆等对称表面
外圆表面 2 Zb =da-db , 内圆表面 2 Zb =Db-Da ;工序尺寸公差一般按“入体原则”标注
最大余量Zmax
Zmax= la – (lb –Tb)= Zb + Tb
最小余量Zmin
Zmin =( la – Ta ) – lb= Zb – Ta
工序余量变动范围
Tz = Zmax–Zmin
= Tb + Ta; 对于包容尺寸(孔径、槽宽),下偏差为0,其最小尺寸
就是基本尺寸,本工序的公称余量: Zb =lb-la ;式中 Zmax ,Zmin ,Zm—— 最大、最小、平均余量;
TZ ——余量公差;
amax ,amin ,am—— 上工序最大、最小、平均尺寸;
bmax ,bmin ,bm—— 本工序最大、最小、平均尺寸;
Ta ——上工序尺寸公差;
Tb ——本工序尺寸公差。;;1)上工序留下的表面粗糙度值Ry和表面缺陷
层深度Ha
本工序必须把上工序留下的表面粗糙度和表面缺陷层
全部切去,因此本工序余量必须包括这两项因素。;2)上工序的尺寸公差Ta
上工序加工表面存在形状误差,如平面度、圆柱度等,
其总和不超过Ta ,为使本工序能切去这些误差,工序
余量应包括Ta项。 ;3)Ta值没有包括的上工序留下的空间位置误差 ea;4)本工序的装夹误差 εb
如果本工序存在装夹误差
(定位误差、夹紧误差),
还应考虑εb的影响。
ea与εb都是向量,要用矢量
相加所得矢量和的模进
行余量计算。;;;;;A2;; 1.极值法;最小极限尺寸:等于所有增环的最小极限尺寸之和减去所有减环的最大极限尺寸之和。;③ 封闭环的上偏差 与下偏差 : ;特点:以概率论理论为基础,计算科学、复杂,用于环数较多的大批大量生产中。; (1)正计算——已知各组成环,求封闭环。主要用于验算所设计的产品能否满足性能要求,零件加工后能否满足零件的技术要求。;; 图示工件 ,以底面A定位,加工台阶面B,保证尺寸 ,试确定工序尺寸A2。 ;设计基准(定位基准);设计基准;L2为待求测量尺寸; mm。;(3)尺寸链计算 ;;3) 定位基准和设计基准不重合的尺寸链计算;2)一次加工??足多个设计尺寸要求时工序尺寸
及公差的计算;;【 例2 】 ;3.校核工序间余量;A1;;;;;二、平面尺寸链;① 直接标注坐标尺寸;③ 标注两孔中心距和一个坐标尺寸
④标注两个中心距; 2.平面尺寸链举例
某箱体孔系的设计尺寸如图所示。该箱体孔系拟在数控坐标镗床上加工,工序安排为:以底面、侧面和后面为定位基准,先加工I孔,再加工Ⅱ孔,最后加工III孔。;I孔的定位尺寸是两个坐标尺寸(已知),
II孔、Ⅲ孔的定位尺寸是中心距和一个坐标尺寸,要先求出另一坐标尺寸并求出坐标尺寸公差后再编程。;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;
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