SPC统计过程控制案例分析报告.docx

统计过程控制(SPC)案例分析 用途 分析判断生产过程的稳定性，生产过程处于统计控制状态。 及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异，预防不合格品产生。 査明生产设备和工艺装备的实际精度，以便作出正确的技术决定。 为评定产品质量提供依据。 控制图的基本格式1.标题部分 X-R控制图数据表 产品名称 工作指令编号 收集数 质量特性 车间 据期间 观察方法 规定日产量 设备编号 规格界限Tu 抽 间隔 操作 (或要求)T1 样数量 人员 作业指导书编号 仪器编号 检验人员 生产过程 质量要求 日时样本 测定值 均值极差备注 期间号 XI X2 X3 X4 X5 乂 R  计算：乂图：CL=f UCL=f+A求 R 图：CL=^UCL=q 斤LCL= R 图：CL=^ UCL=q 斤 LCL= D.R 2.控制图部分 在方格纸上作出控制图: 乂-尺控制图 乂图 R图 说明 操作人  班组长 质量工程师 横坐标为样本序号，纵坐标为产品质量特性。图上有三条平行线: 实线CL:中心线 虚线UCL:上控制界限线 LCL:下控制界限线。 控制图的设计原理 1?正态性假设：绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分 布。 2? 3/准则：99O 73%O 小概率事件原理：小概率事件一般是不会发生的。 反证法思想。 !1!?控制图的种类 !1! ?控制图的种类 按产品质量的特性分 ⑴计量值（乂-龙-R,X-Ks，乂-S） （2）计数值（p, pn, u, c 图）。 按控制图的用途分：（1）分析用控制图；（2）控制用控制 图。 五.控制图的判断规则 1. 分析用控制图： 规则1判稳准则一一-绝大多数点子在控制界限线（3种情况）; 规则2判异准则--一-排列无下述现象（8种情况）。 2?控制用控制图： 规则1每一个点子均落在控制界限。 规则2控制界限点子的排列无异常现象。 [案例1] P控制图 某半导体器件厂2月份某种产品的数据如下表⑵⑶栏所表示，根据以 往记录知，稳态下的平均不合格品率P = 0.0389，作控制图对其进行控 制? 数据与p图计算表 组号⑴ 样本量(2) 不合格品数D(3) 不合格品率p(4) P 图的 UCL(5) 1 85 2 0.024 0.102 2 83 5 0.060 0.103 3 63 1 0.016 0.112 4 60 3 0.050 0.114 5 90 2 0.022 0.100 6 80 1 0.013 0.104 7 97 3 0.031 0.098 8 91 1 0.011 0.100 9 94 2 0.021 0.099 10 85 1 0.012 0.102 11 55 0 0 0.117 12 92 1 0.011 0.099 13 94 0 0 0.099 14 95 3 0.032 0.098 15 81 0 0 0.103 16 82 7 0.085 0.103 17 75 3 0.040 0.106 18 57 1 0.018 0.116 19 91 6 0.066 0.100 20 67 2 0.030 0.110 21 86 3 0.035 0.101 22 99 8 0.080 0.097 23 76 1 0.013 0.105 34 93 8 0.086 0.099 25 72 5 0.069 0.107 26 97 9 0.093 0.098 27 99 10 0.100 0.097 28 76 2 0.026 0.105 小计 2315 90 ［解］ 步骤一：预备数据的取得，如上边表所示. 步骤二：计算样本不合格品率门=05,卩=0/口 =2/85 =0.024 步骤三：计算p图的控制线 戸==工 ° /》n, =90/2315 = 0.0389 UCL =p + 3j(l-)/〃 = 0.0389+3^0.0389(1 - 0.0389)/^. CL = 0.0389 LCL =p-3j(l-)/〃 = 0.0389 - 3j0.0389(l - 0.0389)/q 由于本例中各个样本大小他不相等，所以必须对各个样本分别求出其 控制界线?例如对第一个样本nl=85,有 UCL=0.102 CL=0.0389 LCL=-0.024 此处LCL为负值，取为零.作出它的SPC图形. ［案例2］为控制某无线电元件的不合格率而设计p图，生产过程质量 要求为平均不合格率＜2%o 解：一 ?收集收据 在5M1E充分固定并标准化的情况下，从生产过程中收集数据, 见下表所表示： 某无线电元件不合格品率数据表 组号 样本大小 样本中不合格品数 不合格品率 1 835 8 1.0 2 808 12 1.5 3 780 6 0.8 4 504 12 2.4 5 860 14 1.6 6 600