Ca、Cp、Cpk计算及QC七大手法.ppt

Trust Hardwork WarmthCopyright 2003 Grace Electron Corp. Trust Hardwork WarmthCopyright 2003 Grace Electron Corp. Trust Hardwork WarmthCopyright 2003 Grace Electron Corp. Trust Hardwork WarmthCopyright 2003 Grace Electron Corp. 目錄 一、制程能力的計算 二、品管七大手法 * 第一页，编辑于星期三：四点 四十六分。 一、 制程能力的計算 品質的好坏決定于制程的穩定度,指制程在我們設定的規格界限內的執行狀況.此不穩定的情況有兩种,由此可以判定制程能力: 1 實測平均值和規格中心值的偏移,用制程准确度Ca表示; 2 測量結果的變异,用制程精密度Cp表示. 3 綜合Ca与Cp狀況,用制程能力指數Cpk表示判斷 符合情況. 第二页，编辑于星期三：四点 四十六分。 1 制程准确度Ca (Capability of accuracy) 用途: 衡量制程實測平均值和規格中心值的一致性. 公式: Ca = (實測平均值-規格中心值)/(規格公差 /2)*100% = (X – μ)/(T/2) *100% 其中:T = USL – LSL; μ = 規格中心 (1). Ca等級判定 (2). 制程中 | Ca | 過高,可能的原因有: a. 机台零件磨損或維修后未校正; b. 人員未按操作標准操作; c. 原料變質. 第三页，编辑于星期三：四点 四十六分。 五 制程能力的計算 2 制程精密度Cp (Capability of precision) 用途: 衡量制程之變异寬度与規格界限相差狀況. 公式: Cp = (USL – LSL)/ 6σ(6個標准差)--- (雙邊規格) Cp = (USL – X)/ 3σ或( X – LSL)/ 3σ-(單邊規格) σ = R / d2 (1). Cp等級判定 (2). 制程中 | Cp | 偏低,可能的原因有: a. 机台零件故障; b. 人員熟練度不佳; c. 原料批內差异過多. 第四页，编辑于星期三：四点 四十六分。 五 制程能力的計算 3 制程能力指數Cpk (Capability of precision) 將Ca与Cp兩項合并評估: 公式: Cpk = (1 - | Ca | ) * Cp ------ (雙邊規格) or min(Cpk(U),cpk(L)), Cpk (U) = ( | USL – x | ) / 3σ,Cpk (L) = ( | x – LSL | ) / 3σ, Cpk = Cp --- (單邊規格) Cpk等級判定 第五页，编辑于星期三：四点 四十六分。 1.查檢表(調查表) 2.柏拉圖(排列圖) 3.特性要因圖(因果圖) 4.直方圖 5.管制圖 6.散布圖 7.層別法 二、品管七大手法 * 第六页，编辑于星期三：四点 四十六分。 1.查檢表(調查表) (1).簡介 查檢表是一種簡單易懂的表格,能夠回答“這些事件多久會發生一次? 發生多少次”之類的問題,同時也是將“意見”轉變為“事實”的第一步過程. (2).分類: 查檢表可分為記錄用及點檢用兩類.記錄用查檢表是把數據分類為 數個項目別,以符號記錄的表或圖.點檢用查檢表是把要確認的各種事 項全部列出來而成的表. (3).查檢表的功用: a.調查不良內容,不良原因; b.調查品質分布狀況; c.調查發生不良的時間,位置,相關人員; d.作業內容,條件記錄; e.調查結果的記錄保存. * 第七页，编辑于星期三：四点 四十六分。 2. 柏拉圖(排列圖) 簡介:柏拉圖是一种垂直柱狀圖形,可以表現狀況對整体影響的程度,用來幫助我們決定問題解決先后順序的特殊圖形,協助我們將注意力和努力集中在真正重要的問題上. * 第八页，编辑于星期三：四点 四十六分。 3.特性要因圖(因果圖) (1).簡介： 一個問題的特性(結果)受一些要因(原因)的影響時，將來這些要因加以整理，成為有相