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MOS集成电路工艺流程 ;mos技术;MOS具有以下优点;CMOS的分类;P阱CMOS工艺;P阱CMOS工艺;P阱CMOS工艺;P阱CMOS 工艺结构缺点;P阱CMOS工艺;;11;12;13;14;15;16;17;18;19;20;21;22; N阱CMOS工艺 1.衬底准备; 2. 氧化、光刻N-阱(nwell); 3. N-阱注入,N-阱推进,退火,清洁表面; 4. 长薄氧、长氮化硅、光刻场区(active反版); 5.场区氧化(LOCOS), 清洁表面 (场区氧化前可做N管场区注入和P管场区注入);6. 栅氧化,淀积多晶硅,多晶硅N+掺杂,反刻多晶 (polysilicon—poly); 7. P+ active注入(Pplus)( 硅栅自对准); 8. N+ active注入(Nplus —Pplus反版) ( 硅栅自对准); 9. 淀积BPSG,光刻接触孔(contact),回流; 10. 蒸镀金属1,反刻金属1(metal1); 11. 绝缘介质淀积,平整化,光刻通孔(via); 12. 蒸镀金属2,反刻金属2(metal2);13. 钝化层淀积,平整化,光刻钝化窗孔(pad);硅栅自对准的作用;MOS管衬底电极的引出;其它MOS工艺简介;(7)场区氧化,有源区Si3N4和SiO2腐蚀,栅
氧化,沟道掺杂(阈值电压调节注入)。
(8)多晶硅淀积、掺杂、光刻和腐蚀,形成
多晶硅版。
(9)?NMOS管光刻和注入硼,形成N+版。
(10)?PMOS管光刻和注入磷,形成P+版。
(11)硅片表面生长SiO2薄膜。
(12)接触孔光刻,接触孔腐蚀。
(13)淀积铝,反刻铝,形成铝连线。
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