mdajtag测试原理课件.ppt

Copyright ? 2009. Alpha Networks Inc. All rights reserved. ;序言;目录;MDA 测试的原理与方法 ;隔离(Guarding)原理;1. 以电流源当信号源输入时，则在相接组件一之另一脚加上一等高电位能，以防止电流流入与被测组件相接之旁路组件，确保量测的精准性。此时隔离点的选择必须以和被测组件高电位能脚(高点)相接之旁路零件为参考范围(见图一);2. 以电压源当信号源输入时，则在相接组件二之另一脚加上一等低电位能，以防止与被测组件相接之组件所产生的电流流入，而增加量测的电流，影响量测的精准性。此时隔离点的选择必须以和被测元件低电位能脚(低点)相接之旁路组件为参考范围(见图二) 。;MDA 测试方法 ; 定电流测量法 ;电容的量测方法;电感器的量测方法;电压测试的方法;集成电路的测试(IC Clamping Diode);短/断路测试的方法;跳线测试(Jumper Test) ;HP TestJet技术;IC SCAN技术; MDA是一种用于高产量/低混合环境的好工具，这里测试只用于诊断制造缺陷。测试时间比视觉测试少，因此 MDA能够赶上生产线的节拍速度。MDA 测试方法可以直接着诊断输出,方便工厂作业 * 其主要优点较低的前期成本、较低 WIP(Work In Process在制品)、低的编程与程序维护成本、高输出、容易跟随诊断、和快速完全的短路与开路测试。 * 其主要缺点是不能确认材料清单(BOM, bill of material)是否符合在测单元(UUT, unit under test)、没有数字式确认、没有功能测试能力、不能调用固件(firmware)、通常没有测试覆盖指示、板与板线与线之间的可重复性、夹具成本、以及使用会存在问题。;JTAG测试:简言之是顺序扫描集成电路组件之全部外界输入输出脚端，撷取输入输出端之测试数据，藉以进行测试组件内部之功能，或进行被安装在印刷电路基板之测试方法。此种测试方案最初于1985年的欧洲推动委员会-- JETAG (Joint European Test Action Group):欧洲联合测试推动团体在提案。1996年美国加入，委员会名称改为 JTAG (Joint Test Action Group)联合测试行为组织。最终提案于1990年完成规格化—IEEE 1149(IEEE std.1149.1-1990 standard test access port and boundary-scan architecture)标准测试存取阜及边界扫描架构.该测试方法主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持 JTAG协???,如 DSP、FPGA 器件等。;JTAG 测试的原理;标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 相关JTAG引脚的定义为： TCK (test clock)--测试时钟输入； TDI (test data input)--测试数据输入，数据通过 TDI引脚输入JTAG接口； TDO (test data output)--测试数据输出，数据通过TDO引脚从JTAG接口输出； TMS (test mode select)--测试模式选择，TMS用来设置JTAG接口处于某种特定的测试模式； TRST* (test re-set)--测试复位，输入引脚低电平GND有效。 ;Boundary Scan Test 5 Signals ;TESR CELL WORK FLOW;Board Testing with Boundary-Scan;JTAG 的应用范围;In this window you can see Scanwork’s power (All action can be used for test);相关测试行为;Run Sequences :;测试覆盖; 1DL248G...A1G / 1DL248GP..A1G MDA Test Coverage Report;PCBA Test Flow;PCBA Product flow;测试设备;测试设备与所期望的覆盖范围 ;PCI400示图;Q A;1.在 MDA 测试中,电阻、电容的测试方法有哪些? 2. MDA / ICT 测试仪最大的特点是什么? 3. 什么是 JTAG 测试? 4. JTAG 测试最基本的四种信号线是什么?