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半导体处于热平衡状态,能级E上的电子分布几率满足费米分布,非简并条件下满足玻耳兹曼统计规律。为了计算非平衡态的半导体电导率,首先必须找出非平衡态时分布函数所满足的方程——玻耳兹曼方程 漂移变化:由于外场作用,分布函数改变是连续的,称为漂移变化,引起单位时间体积元 电子数变化: 散射作用:电子在运动过程中不断地遭到散射,波矢产生突变使分布发生改变。单位时间体积元内因散射电子数变化为: 假定电子只有在时间τ内是自由运动的,散射后又恢复到无规则的分布,即分布函又恢复到f0。在外加电场作用下,电子k状态不断地改变,经过τ时间,波矢为k处的电子是由k一k’τ处加速而来, 当τ很小时 稳定状态下,短时间内分布函数变化不明显, 弱电场近似下玻耳兹曼方程的解 外加电场中: 平衡态Boltzman 方程: 弱电场情况下,分布函数改变不大,取相对于平衡状态下的偏离 球形等能面半导体的电导率 各向同性的散射τ与方向无关.仅是能量E的函数,f0对E导数是中心对称的,所以含不同方向的积分项为零。 非简并半导体分别函数和电子密度分别为: 实验现象: 电场不太强时,电流密度与电场强度关系服从欧姆定律: (平均漂移速度与电场强度成正比.迁移率大小为常数与电场无关) 当电场强度增强到103V/cm以上时,发现偏离了欧姆定律。电导率不再是常数,随电场而变。电导率决定于载流子浓度和迁移率,说明平均漂移速度与电场强度不再成正比,迁移率随电场改变。 迁移率: 强场下迁移率: 有 多能谷散射,耿氏效应 : 耿氏效应(Gunn effect): 高强电场中的多能谷半导体中的电流会产生高频振荡的现象, 如n-GaAs在3×103V/cm下产生GHz数量级振荡。在3×103~2×104V/cm强电场范围,电导率为负,当E继续增大时,平均漂移速度趋于饱和107cm/s。 从GaAs能带结构看出,当电场达到3×103V/cm后,能谷1中的电子可从电场中获得足够的能量而开始转移到能谷2中,发生能谷间的散射,电子的准动量有较大的改变,伴随散射就发射或吸收一个光学声子。因这两个能谷不是完全同的,进入能谷2的电子,有效质量大为增加,迁移率大大降低,平均漂移速度减小,电导率下降,产生负阻效应。 霍耳效应 概念 把通有电流的半导体放在均匀磁场中,设电场沿x方向,电场强度为Ex;磁场方向和电场垂直,沿z方向,磁感应强度为Bz,则在垂直于电场和磁场的十y或一y方向将产生一个横向电场Ey,这个现象称为霍耳效应。 霍耳电场Ey与电流密度Jx和磁感应强度Ex成正比: 或: 称为霍耳系数 一种载流子的霍耳效应 横向霍耳电场对载流子的作用与洛伦兹力作用相抵消时,达到稳定状态。稳定时,霍耳电场应满足: x方向的电流: n型半导体,附加电场Ey沿y轴负方向 p 型半导体,附加电场Ey沿y轴正向 横向霍耳电场的存在,稳定时y方向没有电流,电流仍沿 x方向,合成电场不再沿x方向,电场和电流在垂直磁场方向的xy平面有一夹角θ称为霍耳角。。 对p型半导体,E偏向十y方向,霍耳角为正 对n型半导体,E偏向一y方向,霍耳角为负 两种载流子的霍耳效应 半导体中同时有两种载流子时,稳定下横向电流应为零,而空穴和电子电流分别并不为零。电子和空穴电流密度分别包含两部分:由洛伦兹力引起的y方向电流和由霍耳电场引起的在y方向载流子电流密度 ,分别为: 纯净半导体,或是温度在本征范围内的杂质半导体,RH<0,随着温度的增高,n及p增多,RH的绝对值减小。 P型半导体,当温度在杂质导电范围内,导带中 电子数很少,RH>0; 温度升高本征激发的载流子随之产生增加,在 p=nb2时,RH=0;温度再升高,pnb2时RH<0,所以p型半导体,当温度从杂质导电范围过渡到本征范围时,RH改变符号。 n型半导体,不管在什么温度,空穴数不会比电子多,所以RH<0,不会变符号 磁阻现象 概念: 在与电流垂直的方向加磁场后,沿外加电场方向的电流密度有所降低,即由于磁场的存在,半导体的电阻增大,这个现象称为磁阻效应 磁阻效应分为物理磁阻效应和几何磁阻效应两种 几何磁阻效应 磁阻效应还与样品的形状有关,不同几何形状的样品,在同样大小的磁场作用下,其电阻不同,这个效应称为几何磁阻效应。 作业 一完全补偿的半导体(施主和受主浓度
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