JRT 0045.2-2014终端检测规范.docx

JRICS 35.240.40 JR A 11 备案号： 中 华 人 民 共 和 国 金 融 行 业 标 准 JR/T 0045.2—2014 代替JR/T 0045.2—2008 中国金融集成电路（IC）卡检测规范第 2 部分：借记/贷记应用终端检测规范 China financial integrated circuit card test specifications— Part 2: Debit/Credit terminal test specification 2014-07-30 发布 2014-07-30 实施 中国人民银行 发布 JR/T 0045.2—2014 JR/T 0045.2—2014 JR/T 0045.2—2014 JR/T 0045.2—2014 目 次 前言. I 引言. II 1 范围. 1 规范性引用文件 1 术语和定义 1 符号和缩略语 4 总体要求 7 电特性和通讯协议的测试案例 7 一般要求 7 机械性测试（JXCS） 7 电特性测试（DXCS） 8 卡片操作过程测试（CZGC） 12 复位应答（FWYD） 14 协议测试：T=0（XYCS） 34 协议测试：T=1（XYCS） 42 终端传输层（ZDCS） 70 借记贷记应用的测试案例 73 数据元和命令（YSML） 73 应用选择（YYXZ） 112 安全方面（AQFM） 126 数据对象（SJDX） 250 认可的加密算法（JMSF） 253 金融交易接口文件（JKWJ） 255 交易过程中使用的功能（SYGN） 261 生成应用密文命令编码（SCMW） 351 IC 卡中错误和缺少的数据（CQSJ） 355 终端总体要求（ZTYQ） 376 软件体系结构（TXJG） 399 持卡人和商户界面（CSJM） 400 终端数据元的编码（YSBM） 413 命令语法（MLYF） 414 综合测试（ZHCS） 423 补充测试（BCCS） 443 安全方面—国际算法补充测试（R-AQFM） 447 安全方面—国密算法（SM-AQFM） 447 基于借记贷记的小额支付应用的测试案例 540 应用选择（P2EA） 540 初始化应用（P2EB） 541 脱机数据认证(国际算法)（P2EC） 544 脱机数据认证(国密算法)（SM-P2EC） 545 处理限制（P2ED） 546 持卡人认证（P2EE） 548 终端风险管理（P2EF） 550 终端行为分析（P2EG） 552 发卡行脚本处理（P2EH） 559 其他情况（P2EI） 561 I I II II 前 言 JR/T 0045 《中国金融集成电路（IC）卡检测规范》 分为5个部分： ——第 1 部分：借记/贷记应用卡片检测规范； ——第 2 部分：借记/贷记应用终端检测规范； ——第 3 部分：借记/贷记应用个人化检测规范； ——第 4 部分：非接触卡片检测规范； ——第 5 部分：非接触终端检测规范。本部分为JR/T 0045的第2部分。 本部分按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。 本部分代替JR/T 0045.2—2008《中国金融集成电路（IC）卡检测规范 第2部分：借记 /贷记应用终端检测规范》。 本部分与JR/T 0045.2—2008相比主要变化如下： —— 修改了标准的前言； —— 修改了测试案例的案例编号； —— 删除了对 DDF 的描述和与 DDF 相关的测试案例、金额与 PIN 的输入过程相关的测试案例和旧的终端随机数测试案例； —— 修改了 PPS 案例测试案例和 SDA 相关测试案例； —— 增加了支持再同步终端测试案例、异常情况测试案例、兼容性测试案例、应用选择测试案例、4 种 CDA 模式测试案例、国密算法测试案例、电子现金终端测试案例、新的终端随机数测试案例、圈存日志测试案例和不支持脱机密文 PIN 情况的测试案例； —— 对原标准在文字描述上的勘误做出修正。本部分由中国人民银行提出。 本部分由全国金融标准化技术委员会（SAC/TC180）归口。 本部分主要起草单位：中国人民银行、中国银联股份有限公司、银行卡检测中心、捷德 （中国）信息科技有限公司、金雅拓科技（北京）有限公司、中国金融电子化公司。 本部分主要起草人：王永红、李晓枫、陆书春、潘润红、杜宁、李兴锋、陈则栋、李新、汤沁莹、齐大鹏、李春欢、刘志刚、张永峰、余沁、李乃珊、胡盖、于虹、陆洋、王二军、张跃、金自荣、黄海龙、高大伟、程晋疆、周权、陈莹、冯欢、张艳。 本部分于2008年首次发布，本次为第一次修订。 引 言 本部分的主要依据是 JR/T 0025.3、JR/T 0025.4 和 JR/T 0025.6，在此基础上制定了中国金融集成电路（IC）卡借记/贷记应用终端的相关检测案例