GB/T 20724-2021微束分析　薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法.pdf

ICS71.040.99 CCSN53 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT20724 2021 代替 / — GBT20724 2006 微束分析 薄晶体厚度的 会聚束电子衍射测定方法 — Microbeamanalsis Methodofthicknessmeasurementforthincrstals y y b converentbeamelectrondiffraction y g 2021-12-31发布 2022-07-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — GBT20724 2021 目 次 前言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅲ 引言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅳ 1 范围 ……………………………………………………………………………………………………… 1 2 规范性引用文件 ………………………………………………………………………………………… 1 3 术语和定义 ……………………………………………………………………………………………… 1 4 方法概述 ………………………………………………………………………………………………… 3 5 仪器设备 ………………………………………………………………………………………………… 4 5.1 主要设备 …………………………………………………………………………………………… 4 5.2 数据的记录与测量方式 …………………………………………………………………………… 4 6 试样 ……………………………………………………………………………………………………… 4 6.1 一般要求 …………………………………………………………………………………………… 4 6.2 薄晶体试样 ………………………………………………………………………………………… 4 6.3 萃取复型或粉末试样 ……………………………………………………………………………… 4 7 实验步骤 ………………………………………………………………………………………………… 4 7.1 仪器准备 …………………………………………………………………………………………… 4 7.2 获取双束会聚束电子衍射花样 …………………………………………………………………… 5 7.3 数据测量与计算 …………………………………………………………………………………… 6 8 测定结果的不确定度 …………………………………………………………………………………… 7 9 实验报告 …………………………………………