AEC - Q100-004 - Rev-D - IC Latch-Up Test集成电路闩锁.pdf

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2022-05-19 发布于广东
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AEC - Q100-004 - Rev-D - IC Latch-Up Test集成电路闩锁.pdf

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AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a complex technology brings together experience and skills from many sources. The Automotive Electronics Council would especially like to recognize the following significant contributors to the development and release of this document: Latch-up Sub-Committee Members: Lynn Norman AMRDEC Alan Righter Analog Devices Wolfgang Reinprecht AMS Mark A. Kelly Delphi Corporation Nick Lycoudes Freescale Michael Stevens Freescale Reinhold Gaertner Infineon Gary.B.Fisher JCI John Baker Lattice Semiconductor Richard Aburano Maxim Brian Standley Maxim Nick Martinez Microchip Bob Knoell NXP Semiconductors Zhongning Liang NXP Semiconductors Theo Smedes NXP Semiconductors Tianyuan Wu NXP Semiconductors Robert Ashton ON Semiconductor Mark Gabrielle ON Semiconductor Thomas Stich Renesas Electronics