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④ 多参数巡回显示时的显示周期定时；⑤ 动态保持方式输出过程通道的动态刷新周期定时；⑥ 电压一频率型A / D 转换器定时电路；⑦ 故障监视电路（Watch dog ）的定时信号。 微机化测控系统广泛采用的定时方法是软件与硬件相结 合的方法。 首先由定时电路产生一个基本的脉冲。硬件定时时间 到，产生一中断。监控主程序随即转入时钟中断管理模 块。在设计软件结构时，可串行地或并行地设置几个软 件定时器（在用户RAM 区）。若一个定时间隔是另一个 的整数倍，软件定时器可设计成串行的；若不是整数 倍，则可设计成并行的。 监控程序设计全文共46页，当前为第30页。 当硬件定时中断一到，这些软件时钟分别用累加或递减方法 计时，并由软件来判断是否溢出或回零（即定时时间到）， 这一程序段一般不会很长，故对测控系统的实时性影响极 小。采用这一方法，可方便地实现多个定时器功能。时钟管 理模块的任务仅是在监控主程序中对各定时器预置初值和在 响应时钟中断过程中判断是否时间到。一旦时间到，则重新 预置初值，并建立一个标志，以提示应该执行前述7 种功能 中的某项服务程序。服务程序的执行一般都安排在时钟中断 返回以后进行。由查询中断中建立的标志状态来决定是否执 行该功能。 监控程序设计全文共46页，当前为第31页。 6 . 5 硬件故障的自检 1. 自检方式 自检就是利用事先编制的程序 对测控系统的主要部件进行自 动检测，以确定是否有故障以 及故障的内容和位置。 故障诊断的基本原理是对被测部件输入一串数据― 试验数据，然后观察相应的输出数据，并对观察结果进行分析，确定故障的内容和位置。 自检方式可分为三种类型： 监控程序设计全文共46页，当前为第32页。 (1)开机自检 开机自检在电源接通或 系统复位之后进行。自检中如果 没发现问题，就进入测控程序， 如果发现问题，则及时报警。 (2)周期性自检 周期性自检是指在测控系统运行过程中，间断插入的自检操作，这种操作可以保证测控系统在使用过程中一直处于正常状态。周期性自检不影响测控系统的正常工作，因而只有当出现故障给予报警时，用户才会觉察。 监控程序设计全文共46页，当前为第33页。 (3)键盘自检 具有键盘自检功能的测控 系统面板上应设有“自检”按键，当 用户对系统的可信度发出怀疑时， 便通过该键来启动一次自检过程。 自检过程中，如果检测到系统出现 某些故障，以文字或数字的形式显 示“出错代码”“Error X ” ，其中“X ”为故障代号，操作人员根据“出错代码”，查阅操作手册便可确定故障内容。此，往往还给出指示灯的闪烁或者音响报警信号。 监控程序设计全文共46页，当前为第34页。 一般来说，自检内容包括ROM 、RAM 、总线、显示器、键盘以及测控电路等部件的检测。测控系统能够进行自检的项目越多，使用和维修就越方便，但相应的硬件和软件也越复杂。 监控程序设计全文共46页，当前为第35页。 2. 自检算法 ROM 或EPROM 的检测 ROM 故障的检测常用“校验和”方法， 具体做法是： 在将程序机器码写入ROM 的时候， 保留一个单元（一般是最后一个单元），此单元不写程序机器码而是写“校验字”, “校验字”应能满足ROM 中所有单元的每一列都具有奇数个1 。自检程序的内容是：对每一列数进行异或运算，如果ROM 无故障，各列的运算结果应都为“1 ” ，即校验和等于FFH ，这种算法如表6 一5 一1 所列。 监控程序设计全文共46页，当前为第36页。 监控程序设计全文共46页，当前为第37页。 理论上，这种方法不能发现同一位上的偶数个错误，但是这种错误的概率很小，一般可以不予考虑。若要考虑，须采用更复杂的校验方法。 监控程序设计全文共46页，当前为第38页。 (2) RAM 的检测数据存储器RAM 是否正常 是通过校验其“读写性能” 的有效性来体现的。通常 选用特征字 55H( ）和 AAH ) ， 分别对RAM 每一个单元 进行先写后读的操作， 其自检流程图如图6 -5-1 所示。 监控程序设计全文共46页，当前为第39页。 上述检验属于破坏性检验， 只能用于开机自检。若RAM 中已存有数据，在不破坏RAM 中原有内容的前提下进行检验就 相对麻烦一些。常用的方法是“异或法”，即把RAM 单元的内容求反并与原码进行“异或”运算，如果结果为FFH , 则表明该RAM 单元读写功能正常，否则，说明该单元有故障