海思终端芯片ATE技术手册.docxVIP

海思终端芯片ATE技术手册 一、文档说明： 本文参照业界通用做法，定义了海思终端芯片类COT的推荐ATE测试策略，以及此类芯片在测试程序开发及量产时各版本的的测试规范及测试项目要求。因技术和芯片规格持续发展，各IP的测试规范不断添加和完善。对于成熟IP，程序开发时需要遵守该规范，新IP测试规范建立时可参考对应的测试规范。 二、文档目的： 支撑终端芯片媒体类产品达成2000 FDPPM的质量目标。 三、使用规范： 1）本文档针对IP的测试项仅进行简单说明，详细说明及指导手册请严格遵守《IP测试规范》及《IP测试CBB》。 2）芯片测试策略必须不松于该规范，如有测试条件的删减，需经过PDT经