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2023-02-15 发布于四川
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本实用新型公开了一种自动化测试系统，用于对半导体器件的引脚进行测试，自动化测试系统包括：数字电桥模块和控制模块；数字电桥模块的输入端，与半导体器件的引脚连接，用于检测半导体器件引脚的结电容；数字电桥模块的输出端与控制模块的输入端连接，以将半导体器件引脚的结电容同步给控制模块；控制模块，用于根据获取的半导体器件引脚的结电容，确定半导体器件的引脚是否损伤。该自动化测试系统能够通过数字电桥模块，检测半导体引脚的结电容，实现半导体器件引脚的非功能性的微损伤测试，且提高了测试效率，有利于保证半导体器件的可

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212569021 U (45)授权公告日 2021.02.19 (21)申请号 202021129984.0 (22)申请日 2020.06.17 (73)专利权人合肥移瑞通信技术有限公司