基于采集序列细分的纳米CT投影位置漂移校正方法及装置.pdfVIP

基于采集序列细分的纳米CT投影位置漂移校正方法及装置.pdf

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本发明属于纳米CT投影图像校正技术领域,具体涉及一种基于采集序列细分的纳米CT投影位置漂移校正方法及装置,该方法包括采用圆轨迹方式在N个角度,每个采集角度下采集M张投影;计算采集角度为θn的M张投影的位置偏差,根据位置偏差对投影进行位置漂移校正并将校正后的CT图像进行多帧累加;将采集角度为θ1中第M张投影与第1张投影的位置偏差作为初始传递校正值,对采集角度为θ2的投影进行二次校正;将初始传递校正值与采集角度为θ2中第M张投影与第1张投影的位置偏差累加作为传递校正值对采集角度为θ3的投影进行二次校

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 111879798 A (43)申请公布日 2020.11.03 (21)申请号 202010568120.7 (22)申请日 2020.06.19 (71)申请人 中国人民解放军战略支援部队信息

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