一种芯片使用寿命检测装置.pdfVIP

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2023-03-06 发布于四川
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一种芯片使用寿命检测装置.pdf

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本实用新型涉及检测设备的技术领域，特别是涉及一种芯片使用寿命检测装置，其通过设置此设备，可以使芯片在护罩内进行寿命的检测，避免了芯片在检测时受外界环境的影响从而造成检测数据的误差，同时也提高了对检测设备的减震效果，提高实用性；包括处理箱、中控箱、移动门、第一把手、挡板、四组连接板和四组底板，处理箱顶端设置有检测设备，第一把手安装在移动门前端，挡板安装在护罩前端，并且挡板位于护罩开口左侧，四组连接板分别安装在处理箱底端左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组底板分别位于四组连接板下方，四组底板顶端均设

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213240413 U (45)授权公告日 2021.05.18 (21)申请号 202021849635.6 (22)申请日 2020.08.28 (73)专利权人芯冠（苏州）半导体有限公司