一种防止电压漂移的校准设备.pdfVIP

下载本文档

2
0
约5.41千字
约 6页
2023-03-06 发布于四川
举报
版权申诉

一种防止电压漂移的校准设备.pdf

1、本文档共6页，其中可免费阅读3页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本实用新型公开了一种防止电压漂移的校准设备，包括测试治具主体，所述测试治具主体设有MCU、多个GPIO、主测试板、光开关、OLT下行光接入光口、升压电路、限放电路以及电源，所述MCU通过GPIO连接到光开关，光开关通过光纤OLT下行光接入光口连通，OLT下行光接入光口连接有RX光源，光开关还与待测BOSA组件连通。本实用新型在测试治具上添加OLT下行光接入光口，使得在进行APD测试前，先对BOSA组件进行通大光老化实验，在生产阶段就进行老化测试，能够有效防止现网使用接入OLT下行光引起的VBR电

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213240399 U (45)授权公告日 2021.05.18 (21)申请号 202021681140.7 (22)申请日 2020.08.13 (73)专利权人芯河半导体科技（无锡）有限公司