一种半导体真空设备用测试仪.pdfVIP

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2023-03-09 发布于四川
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一种半导体真空设备用测试仪.pdf

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本实用新型公开了一种半导体真空设备用测试仪，包括仪体，所述仪体的内部设置有芯片存储端，所述仪体的上端外表面设置有USB插口与开关，且USB插口位于开关的后端，所述仪体的一侧外表面设置有防护固定结构，所述仪体的外壁设置有箱体，所述箱体的后端外表面设置有连接轴，所述连接轴的外壁设置有箱盖，所述芯片存储端包括芯片板、主控芯片、传输端、接口电路与储存中心，所述主控芯片位于芯片板的内部，所述传输端位于主控芯片的下端，所述储存中心位于传输端的下端。本实用新型所述的一种半导体真空设备用测试仪，可以连续的进行测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213364070 U (45)授权公告日 2021.06.04 (21)申请号 202022818349.X (22)申请日 2020.11.30 (73)专利权人苏州瑞斯密电子科技有限公司