金属结构交流电磁场检测技术规程 .pdfVIP

金属结构交流电磁场检测技术规程 1　范围 本文件规定了金属结构交流电磁场检测（ACFM）的校验，检测及核查方法。 本文件适用于表面温度在-40  ℃～350  ℃的金属结构原材料或焊缝表面及近表面缺陷的检测。 本文件不适用于表面非导电涂层大于5 mm的金属结构检测。 2　规范性引用文件 本文件没有规范性引用文件。 3　术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1　 坐标系　coordinate system 检测实施时，探头扫查方向，扫查面以及工件形成的坐标系。 示例：见图 1。 X：沿扫查方向；Y：沿扫查方向的垂直方向，位于扫查面内；Z：沿扫查面垂直方向。 图1　坐标定义 3.2　 Bx 信号　Bx signal 坐标系（3.1）中磁场X方向分量，平行于探头扫查方向，与工件表面Y方向电流密度成正比。 示例：见图 2 中 Bx。 3.3　 Bz 信号　Bz signal 坐标系（3.1）中垂直于工件表面的磁场分量，与X-Y平面的电流偏转曲率成正比。 示例：见图 2 中 Bz。 1 图2　Bx、Bz 信号 3.4　 平面图　base plot Bx信号（3.2）或Bz信号（3.3）与时间/距离关系形成的平面图谱。 3.5　 蝶形图　butterfly plot 工件表面存在缺陷时，Bx信号（3.2）和Bz信号（3.3）的对应关系形成的平面图谱。 示例：x 轴为 Bz 信号，y 轴为 Bx 信号，见图 3。 图3　蝶形图 3.6　 梯度信号　gradient signal Bz信号（3.3）经过求梯度、滤波降噪以后得到的缺陷辅助判定信号。 示例：见图 4。 图4　梯度图 3.7　 阈值　threshold value 由操作人员设定的梯度值，用于判定缺陷当量。 2 3.8　 缺陷长度　defect length 缺陷在扫查面的投影间的距离。 示例：见图 5 中 l。 3.9　 缺陷深度　defect depth 缺陷下端点与扫查面间的距离。 示例：见图 5 中 d。 图5　缺陷长度和深度 3.10　 提离效应　 lift-off effect 由于探头操作或金属结构不平整原因致使探头与金属结构相对距离发生变化，导致磁场信号的畸变。 3.11　 相关显示　relevant indication 由于材料缺陷产生的磁场变化而形成的典型特征信号。 3.12　 非相关显示　non-relevant indication 由于工件形状突变、工件上的机械创伤、材料磁导率差异等产生的磁场变化形成的典型特征信号。 3.13　 伪显示　false indication 由于人工操作失误，外部磁场干扰等并非由材料本身磁场变化形成的典型特征信号。 4　总体要求 4.1　基本要求 ACFM检测应按照规定的工艺规程实施，工艺规程应不少于表1规定内容，并明确相关因素的具体范 围和要求。 3 表1　ACFM 检测规程要求 项目 相关因素 非相关因素 探头（型号和编号）