一种便于更换的半导体测试探针.pdfVIP

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2023-03-29 发布于北京
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一种便于更换的半导体测试探针.pdf

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本实用新型公开了一种便于更换的半导体测试探针，包括安装板和固定座，所述安装板底部固定安装有固定座，所述固定座下表面固定镶嵌有DC母插，所述DC母插内腔活动插接有DC公插，所述DC公插底部活动连接有探针，所述探针底部活动插接有伸缩探针，所述探针顶部固定连接有二号支撑弹簧。本实用新型探针顶部通过DC公插与DC母插插接连接，且DC公插与DC母插可使探针在使用时进行360度转动，在连接时，不需要特定的安装角度，可使对探针的安装更加的便捷，伸缩探针可进行伸缩，从而避免在测试的过程中，对探针施加的压力过大造

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214041489 U (45)授权公告日 2021.08.24 (21)申请号 202022117359.0 (22)申请日 2020.09.24 (73)专利权人西安和光明宸科技有限公司