一种半导体光电性能测试装置.pdfVIP

下载本文档

0
0
约8.27千字
约 8页
2023-04-11 发布于北京
举报
版权申诉

一种半导体光电性能测试装置.pdf

1、本文档共8页，其中可免费阅读7页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本实用新型公开了一种半导体光电性能测试装置，属于光电性能测试领域，包括支撑柱，所述支撑柱的顶部固定连接有测试台，所述测试台的内部活动套接有滑动板，所述滑动板的顶部固定连接有齿板；通过设置一号橡胶套，当在测试二极管时，将二极管分别套接在一号橡胶套和二号橡胶套的内部，使得具有弹性效果的一号橡胶套和二号橡胶套将二极管固定在其内部，促使滑动板滑动时得以通过二极管带动导电脚针套接在二号导电套内部，从而使得二号导电套得以通过导电脚针对二极管进行通电测试，使得避免了因二极管体积较小导致在测试二极管时不便对二极

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215526024 U (45)授权公告日 2022.01.14 (21)申请号 202121861766.0 (22)申请日 2021.08.10 (73)专利权人山东省赛富电子有限公司