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2023-04-12 发布于北京
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一种精密测量装置.pdf

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本实用新型公开了一种精密测量装置，包括底座，所述底座顶部设置有水平滑动机构，所述水平滑动机构上设置有电动旋转台，所述电动旋转台的输出端安装有放置板；所述底座顶部还设置有直线位移传感器，所述直线位移传感器的测量头与所述电动旋转台的侧部连接；所述底座顶部还设置有电子显微镜，所述电子显微镜的侧部设置有对准机构，在所述水平滑动机构带动所述电动旋转台运动，致使待测物的另一端待测边缘对准所述对准机构后，结合所述直线位移传感器测量出的位移距离，以得出待测物的测量数据。本实用新型采用上述结构的一种精密测量装置，

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215572725 U (45)授权公告日 2022.01.18 (21)申请号 202122114406.0 (22)申请日 2021.09.02 (73)专利权人保定精测计量检测有限公司