IC元件检验用治具.pdfVIP

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2023-04-13 发布于北京
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IC元件检验用治具.pdf

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本实用新型公开了一种IC元件检验用治具，包括可相互盖合的第一基座和第二基座，所述第一基座和所述第二基座之间形成有若干相连通的储料腔和插口，所述插口用于插入IC料管，所述储料腔用于在倾斜所述第一基座、所述第二基座和所述IC料管时容纳从所述IC料管内滑出的IC元件，在打开所述储料腔后可对所述IC元件的正反面进行检验。与现有技术相比，本实用新型实施方式具有简单的设计架构，操作方便，适用于检验及清除IC元件表面的异物，避免影响后续的生产良率；同时无需在从IC料管内倒出的IC元件，并完成检视或后续清洁作业

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215640826 U (45)授权公告日 2022.01.25 (21)申请号 202121801718.2 (22)申请日 2021.08.03 (73)专利权人京隆科技（苏州）有限公司