DDR芯片的存储单元的测试方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

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2023-04-21 发布于北京
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DDR芯片的存储单元的测试方法、装置、设备及存储介质.pdf

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本发明涉及一种DDR芯片的存储单元的测试方法、装置、设备及存储介质，涉及半导体测试领域。方法包括：写入数据到DDR芯片各存储单元中；选定一存储单元作为待测存储单元，记录待测存储单元周围的存储单元为第一数据；对待测存储单元进行逻辑运算，得到运算结果；记录待测存储单元周围的存储单元为第二数据；将逻辑运算结果与预设的期望值进行比对，得到第一比对结果；将第一、第二数据进行比对，得到第二比对结果；根据第一、第二比对结果确定待测存储单元的测试结果。本发明能通过对存储单元进行逻辑运算并校验来检测DDR芯片存储

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113889176 A (43)申请公布日 2022.01.04 (21)申请号 202111154715.9 (22)申请日 2021.09.29 (71)申请人深圳市金泰克半导体有限公司