一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法.pdfVIP

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2023-04-22 发布于四川
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一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法.pdf

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本发明公开一种复测AOI机台检盲孔孔内不良的方法，包括以下步骤：S1：确认复测AOI机台与MES管理系统建立连接；S2：确认所检测的标准产品位于检测位，并点亮；S3：侧相机对检测位上的产品进行拍照，并保存；S4：使用步骤S3中所保存的图片进行模板注册，将其作为模板图片，且模板图片屏蔽产品上的盲孔位置；S5：采用已进行人工盲孔检测的产品进行测试，确认该产品位于复测AOI机台上的检测位，重复步骤S3；S6：复测AOI机台采用异性曲边算法对步骤S5中所得图片进行计算，判断其为孔内良品或孔内不良品；S7

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113933309 A (43)申请公布日 2022.01.14 (21)申请号 202111266545.3 (22)申请日 2021.10.28 (71)申请人赣州市同兴达电子科技有限公司