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本发明公开了一种半导体功率器件结构及其制造方法,包括衬底、外延层及若干沟槽,在沟槽内,栅极多晶硅的上端还设置有绝缘层;沟槽的外壁处设置有第二导电类型的体区,体区的表面设置有第一导电类型的源极区,以及第二导电类型的体接触区;在外延层的表面还覆盖有一阻挡层,在阻挡层的表面设置有金属层,相邻两个沟槽的体区之间形成寄生肖特基区域。本发明的寄生肖特基在每个器件元胞单元内,不需要额外增加器件的面积,能够使得VFSD更低,改善反向恢复的Trr,在电压反偏时,体区与外延层横向耗尽,形成空间电荷会将寄生肖特基表面
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113921614 A
(43)申请公布日 2022.01.11
(21)申请号 202111513373.5 H01L 21/265 (2006.01)
(22)申请日
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