一种基于调制度半宽恒定的自校准结构光测量方法.pdfVIP

一种基于调制度半宽恒定的自校准结构光测量方法.pdf

  1. 1、本文档共8页,其中可免费阅读7页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明公开了一种基于调制度半宽恒定的自校准结构光测量方法,可普适性的适用于提高结构光照明测量方法的测量精度、测量可靠性和测量重复性。该方法采用数字微镜阵列(DMD)产生编码光场,经过光学系统投影到物体表面,物体表面高度信息会被编码在条纹调制度信息中,通过相移算法结合高斯曲线拟合可建立起调制度信息和物体高度信息之间的映射关系,进一步使用步距自校准算法对实际扫描步距进行精确自校准进而获得物体准确三维形貌信息。该方法系统结构简单、稳定性强、普适性高,能够有效地提高结构光照明测量的效果和扩大结构光照明测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113916154 A (43)申请公布日 2022.01.11 (21)申请号 202111193353.4 (22)申请日 2021.10.13 (71)申请人 中国科学院光电技术研究所

文档评论(0)

知识产权出版社 + 关注
官方认证
服务提供商

提供农业、铸造、给排水、测量、发电等专利信息的免费检索和下载;后续我们还将提供提供专利申请、专利复审、专利交易、专利年费缴纳、专利权恢复等更多专利服务。并持续更新必威体育精装版专利内容,完善相关专利服务,助您在专利查询、专利应用、专利学习查找、专利申请等方面用得开心、用得满意!

认证主体北京中献电子技术开发有限公司
IP属地北京
统一社会信用代码/组织机构代码
91110108102011667U

1亿VIP精品文档

相关文档