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本发明公开了一种射频接头辐射泄露的测试装置及方法,属于射频接头的技术领域,其包括检测箱体、连接组件以及测试组件,连接组件包括信号源、测试接头以及负载,检测箱体的一侧开设有容置槽,检测箱体设置有启闭容置槽的启闭板,信号源位于检测箱体外,测试接头用于与其中一射频接头连接,测试接头嵌设安装于检测箱体的侧壁并与信号源连接,负载位于容置槽内,负载用于与另一射频接头连接;测试组件包括频谱分析仪和天线,天线位于容置槽内并与负载对应设置,频谱分析仪位于检测箱体外,天线穿设于检测箱体并与频谱分析仪连接。本申请具有
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113922891 B
(45)授权公告日 2022.07.19
(21)申请号 202111124798.7 (51)Int.Cl.
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