扫描链测试方法、装置、计算机设备及存储介质.pdfVIP

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2023-04-22 发布于北京
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扫描链测试方法、装置、计算机设备及存储介质.pdf

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本发明公开了一种扫描链测试方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及扫描链测试技术领域。该方法包括：获取目标物理区域内的各寄存器的初始时钟延时以及时钟延时范围；根据各时钟延时范围，调整各寄存器对应的各初始时钟延时，得到各寄存器对应的目标时钟延时；根据各寄存器对应的目标时钟延时，对目标物理区域完成扫描链测试。采用该方法可以使得各寄存器的目标时钟延时偏差较大，从而使得寄存器在短时间内的翻转较少，进一步降低了目标物理区域的瞬时功耗，保证了芯片测试安全性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113917321 B (45)授权公告日 2022.03.04 (21)申请号 202111514524.9 审查员王倪颖 (22)申请日 2021.12.13