控制光纤光栅中心波长的传感器制作装置.pdfVIP

下载本文档

0
0
约1.04万字
约 8页
2023-04-24 发布于北京
举报
版权申诉

控制光纤光栅中心波长的传感器制作装置.pdf

1、本文档共8页，其中可免费阅读7页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开了一种控制光纤光栅中心波长的传感器制作装置，包括工装单元和测试单元。工装单元包括：传感器基底、传感器制作平台、三维微位移光纤调整架，其中：传感器基底和三维微位移光纤调整架呈直线排列，并固定于传感器制作平台上；含光纤光栅的单模光纤放置于传感器基底的轴线中心，在距光纤光栅左边1cm的光纤涂覆层处，点胶并加热固化，单模光纤的另一端固定于三维微位移光纤调整架上；测试单元包括：宽带光源、3dB耦合器、光纤光栅解调仪和上位机。在传感器制作过程中，采用工装单元及测试单元，可以在制作过程中控制及调整传

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113983945 B (45)授权公告日 2022.03.22 (21)申请号 202111616146.5 G02B 6/02 (2006.01) (22)申请日 2